电子检测系统 SE3000-DD™

医疗

SE3000 DD SPI 系统采用了革命性的 MRS® 技术，通过仔细识别和剔除由闪亮元件和反射焊点引起的反射，提供了无与伦比的精度。有效抑制多重反射至关重要，这使得 MRS 成为广泛应用（包括具有极高质量要求的应用）的理想技术解决方案。CyberOptics 已将专有的多重反射抑制 (MRS) 传感器提升到更精细的分辨率。超高分辨率 MRS 传感器增强了 SE3000 DD 平台，提供了卓越的检测性能，非常适合 0201 公制工艺和微电子应用，在这些应用中，更高的精度和检测可靠性至关重要。双通道、双传感器系统最大限度地提高了灵活性，以适应不同的印刷电路板宽度。SE3000 DD 不仅提供了 PCB 的灵活性，还提供了选择两个相同或两个不同的专有 MRS 传感器的灵活性。快速、智能、易用的软件SPI V5 系列软件以其直观的界面提供了世界一流的用户体验，完全改变了用户与我们系统的交互方式。双通道、双传感器 SE3000-DD 的占地面积比 2 个 SE3000 标准系统更小，采用智能传送带设计解决方案，可提供最大的灵活性，以适应不同的印刷电路板宽度。这种独特的设计使您可以方便地在不同的通道上检测不同尺寸的电路板，甚至可以从双通道切换到单通道模式来检测超大型电路板。使用 SE3000-DD，您还可以在不同的通道上快速检测不同的程序，以及执行同步或异步检测：35 cm²/sec (2D+3D)超高分辨率 MRS 传感器：15 平方厘米/秒（2D+3D）PCB 尺寸（最大）SE3000 DD：单线：510 x 510 毫米（20 x 20 英寸）；双线：350 x 320 毫米（13.7 x 12.5 英寸）SE3000 D：单通道：510 x 510 毫米（20 x 20 英寸）；双通道：510 x 320 毫米（20 x 12.5 英寸）视场角 (FOV)标准 MRS 传感器：36 x 36 毫米超高分辨率 MRS 传感器：21 x 21 毫米分辨率标准 MRS 传感器：18 微米超高分辨率 MRS 传感器：9 微米最小元件尺寸标准 MRS 传感器：0402 毫米（01005 英寸）超高分辨率 MRS 传感器：0201 毫米（008004 英寸）元件高度间隙顶部：50 毫米（1.96 英寸）；底部：30 毫米（1.18 英寸）：先进的多重反射抑制 (MRS®) 传感器技术适用于微电子应用的超高分辨率 MRS 传感器双通道、双传感器系统具有最大的灵活性，可同时检测不同的组件和电路板尺寸大型电路板可从双通道切换到单通道可选择两个相同或不同的专有 MRS 传感器直观的 SPI V5 系列软件具有多点触摸体验检测速度：标准 MRS 传感器：35 平方厘米/秒（2D+3D）；超高分辨率 MRS 传感器：15 平方厘米/秒（2D+3D）PCB 尺寸（最大）：SE3000 DD：单通道：510 x 510 毫米；双通道：350 x 320 毫米；SE3000 D：单通道：510 x 510 毫米；双通道：510 x 320 毫米视场角 (FOV)：标准 MRS 传感器：36 x 36 毫米；超高分辨率 MRS 传感器：21 x 21 毫米分辨率：标准 MRS 传感器：18 微米；超高分辨率 MRS 传感器：9 微米最小元件尺寸：标准 MRS 传感器：0402 毫米（01005 英寸）；超高分辨率 MRS 传感器：0201 毫米（008004 英寸）组件高度间隙：顶部：50 毫米（1.96 英寸）；底部：30 毫米（1.18 英寸）：30 毫米（1.18 英寸）