X射线检测系统 MXI Ruby XL

自动化PC控制电脑控制

概述
MXI Ruby XL 是一款面向超大型样品和高质量组件的 X 射线检测系统，适用于超大尺寸 PCB 及大尺寸半导体面板检测。系统支持等中心操作与围绕兴趣点的 360° 旋转，可实现高级 2D/3D 检测流程。

主要特征

• 最大检测区域可达 840 x 615 mm（33" x 24.2"），适用于大尺寸 PCB 与面板级封装
• 70° 倾斜视图覆盖范围扩展（约 762 x 610 mm / 30" x 24"）
• 可选高分辨率 Onyx 探测器（特征分辨率可达 1.0 µm，JIMA）或 Aspire 探测器
• NT 100 免维护密封透射 X 射线源

尺寸与搬运

• 最大检测区域：840 x 615 mm（33" x 24.2"）
• 70° 倾斜视图有效覆盖：约 762 x 610 mm（30" x 24"）
• 可围绕兴趣点进行 360° 旋转，等中心机械臂设计保持特征在视野内
• 支持大质量组件和笨重或体积大的电路板

优势

• 多种探测器选项以平衡分辨率与噪声（Aspire 或 Onyx）
• 可选 X-Plane Pro 实现 3D 成像
• AXIS 主动式 X 射线图像稳定以应对振动敏感检测
• Revalution 软件套件提供 HDRlive 图像增强和可选 N-Intelligence AI 检测模块

探测器与软件

• 可选 Onyx 探测器在大尺寸半导体和玻璃面板应用中提供更低噪声与更高特征分辨率
• Revalution 软件支持 X-Plane 三维重建、HDRlive、自动化工作流及 AI 辅助缺陷检测（N-Intelligence）

技术规格

• 型号：MXI Ruby XL
• 最大检测区域：840 x 615 mm（33" x 24.2"）
• 70° 倾斜视图覆盖：762 x 610 mm（30" x 24"）
• 旋转：围绕兴趣点 360°（等中心机械臂）
• X 射线源：NT 100（密封透射，免维护）
• 可选探测器：Aspire 或 Onyx（Onyx：特征分辨率低至 1.0 µm，JIMA）
• 3D 成像：X-Plane Pro（可选）
• 图像稳定：AXIS（主动式 X 射线图像稳定）
• 软件：Revalution（可选 HDRlive、N-Intelligence AI）