TESCAN 显微镜

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SEM显微镜
SEM显微镜
VEGA

倍率: 1,000,000 unit

... VEGA Compact通过TESCAN自己的全功能图形用户界面TESCAN Essence™进行操作,该界面是所有TESCAN SEM和FIB-SEM仪器的核心。在TESCAN VEGA Compact上学习的操作者可以很容易地过渡到其他TESCAN显微镜上,或者调整Essence软件环境的一些功能,以配合实验室中其他仪器的图形用户界面。 主要优点 VEGA Compact的大样品室提供了分析多个样品或大型样品的空间,以及真正的高真空以获得可靠的EDS结果,使样品处理速度更快。 利用TESCAN ...

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TESCAN GmbH
光学显微镜
光学显微镜
VEGA

... TESCAN VEGA的第四代扫描电子显微镜(SEM)带有钨丝电子源,在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中结合了SEM成像和实时元素成分分析。这种结合大大简化了样品形态和元素数据的获取,使VEGA SEM成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料检测的高效分析解决方案。 分析平台具有完全集成的TESCAN Essence™ EDS,它在一个Essence™软件窗口中有效地结合了SEM成像和元素成分分析。 由于TESCAN独特的无孔光学设计由飞行中的光束追踪™提供支持,可立即获得最佳的成像和分析条件 ...

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TESCAN GmbH
光学显微镜
光学显微镜
MIRA

... TESCAN MIRA的第四代扫描电子显微镜(SEM)带有FEG肖特基电子发射源,在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中结合了SEM成像和实时元素成分分析。这种结合大大简化了样品形态和元素数据的获取,使MIRA SEM成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料检测的高效分析解决方案。 分析平台具有完全集成的TESCAN Essence™ EDS,在一个Essence™软件窗口中有效结合了SEM成像和元素成分分析。 由于TESCAN独特的无孔光学设计由飞行中的光束追踪™提供支持,可立即获得最佳的成像和分析条件 ...

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TESCAN GmbH
光学显微镜
光学显微镜
CLARA

... 用于纳米级材料表征的无场分析UHR SEM 在纳米尺度上对所有类型的材料进行无损的表征 在低光束能量下表征材料的理想选择,以获得最大的表面形貌 对光束敏感和不导电的样品有很好的成像效果 电子束的完全自动化设置--飞行中光束追踪™保证了最佳的成像条件 直观的实时SEM导航,放大倍数低至2倍,无需额外的光学导航相机,这要归功于宽场光学系统™的设计 独特的束内多检测器设计允许角度和能量选择性的BSE检测 直观的软件模块化平台,无论用户的技术水平如何,都能轻松操作 ...

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TESCAN GmbH
SEM显微镜
SEM显微镜
MAGNA

... 用于亚纳米级纳米材料表征的UHR SEM 对下一代材料(如催化剂结构、纳米管、纳米颗粒和其他纳米级结构)进行高分辨率和高对比度成像。 适用于亚纳米尺度的SEM/STEM计量的优秀平台 电子束的快速设置--飞行中的光束追踪™保证了最佳的成像条件 多检测器系统TriBE™和TriSE™用于样品的纳米表征 直观的软件模块化平台设计,无论用户的技术水平如何,都可以轻松操作 ...

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TESCAN GmbH
SEM显微镜
SEM显微镜

... 作为连续切片的阵列收集在基底上(阵列断层扫描),可以用SEM自动扫描以产生三维图像堆。这种方法允许重复扫描,并能在任何时候返回到其他感兴趣的区域。另一方面,配备了特殊腔体切片的扫描电镜能够分析现场电子显微镜的特殊尺寸的体积--几乎一立方毫米的块可以被检查。这使我们能够了解细胞、组织、器官和生物体的复杂结构组织,以及大距离的关系,如动物的连接体。 显微镜的灵活性、产量和易用性对核心设施和成像中心的仪器来说是最重要的。因此,TESCAN容积式扫描电镜的设计,只需经过短暂的培训就能完全操作。这可以通过我们模块化的Essence™ ...

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FIB/SEM显微镜
FIB/SEM显微镜
AMBER

... 用于低温和室温结构分析的多用途Ga FIB-SEM TESCAN AMBER用于生命科学,是一种尖端的Ga FIB-SEM解决方案,为生物样品的结构分析提供了多功能的能力。它将Ga FIB的高精度研磨能力与BrightBeam™ UHR SEM无缝结合,可在常温和低温条件下对各种生物样本进行亚表面探索。TESCAN AMBER凭借其卓越的设计,有效地满足了研究中心和研究所的各种挑战性要求。 TESCAN AMBER具有多种功能,使其成为低温和室温结构分析的最佳选择。其一流的GaFIB ...

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FIB显微镜
FIB显微镜
AMBER X

... TESCAN AMBER X是一款高性能聚焦等离子体离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM),适用于超大体积分析和高通量低温应用。TESCAN AMBER X配备了iFIB+柱子,支持以前用Ga FIB系统进行的低温FIB应用,只需一小部分时间,就能获得等离子体FIB固有的超快材料去除率。隐藏在样品深处的特征可以在几分钟内暴露出来,而使用传统的Ga FIB研磨则需要几个小时。 AMBER X cryo非常适用于坚硬的生物材料,如骨骼或贝壳,可以很容易地以FIB系统所期望的精度进行切片。TESCAN ...

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STEM显微镜
STEM显微镜

... 集成的、接近实时的4D-STEM数据分析和处理 电子束预演和近UHV的性能优势 STEM用户体验的一种新方法 分析性4D-STEM 电子束与试样相互作用的全貌 4D-STEM是对材料特性(如形态、化学和结构)进行真正的纳米级、多模式表征的首选显微镜方法。在STEM数据集中的每个像素,TESCAN TENSOR都能快速、完美地同步获得衍射图案和EDS光谱。衍射和光谱数据共同囊括了电子束与试样相互作用的全貌,从中可以得出广泛的材料特性。 4D-STEM数据的近实时分析和处理 TESCAN ...

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X射线显微镜
X射线显微镜
UNITOM HR

空间分辨率: 600, 3 nm

... 可以快速筛选大量的样品,确保只有正确的样品被送去做进一步调查。 无与伦比的性能 表征您的材料。 非破坏性。 具有卓越的图像质量。 TESCAN micro-CT以最短的扫描时间提供卓越的图像质量。高对比度和优秀的信噪比与高分辨率相结合,解决了您所有的显微CT需求。 扫描仪的关键部件--光源、旋转台和检测器--在内部开发的软件工具的支持下,进行了微调以提供最佳的成像效果。 无与伦比的性能 最大化的尺寸 扫描的样品尺寸可以达到1米高和60厘米宽。 ...

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