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倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 1.2, 0.4 nm
... 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.0 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。 具有电子光学系统自动调整功能。
倍率: 20 unit - 8,000,000 unit
空间分辨率: 0.08, 0.1 nm
通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。 透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的球面像差校正器的功能、自动校正功能，像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。 对于包括高端用户在内的广泛用户，我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。 特点 标配日立生产的照射系统球差校正器（附自动校正功能） 搭载具有高辉度、高稳定性的冷场FE电子枪 镜体和电源等的高稳定性使机体的性能大幅度提升 ...
倍率: 1,000,000, 800,000, 600,000 unit
空间分辨率: 0.19, 0.14, 0.2 nm
... 从初学者到熟练者均可操作 通过全新设计的"Image Navigation"功能，可轻松搜寻视野和拍摄图像 配备全自动图像拼接功能、三维重构、STEM和EDX等选配项，支持多种用途 通过选择高分辨率透镜，实现低损伤、高反差、高分辨率的观察，并可支持in situ观察 其他功能和选配项 HT7800配备自动拼图、漂移校正、自动预辐照等功能及STEM、EDX、各种样品杆、电子束三维重构功能（HT7800标准配置）等选配项，可满足各种解析需求。 "RuliTEM"昵称依据Revolution ...
... 即可观察由高对比度的轻元素组成的物体。 多种成像模式可供选择 LVEM5 是世界上最小的商用透射电子显微镜，具有传统 TEM 中的所有标准成像模式。LVEM5 可以在透射（TEM - 透射电子显微镜）或衍射（SAED - 选区电子衍射）模式下工作，也可以在扫描模式下工作（STEM - 扫描透射电子显微镜和 SEM - 扫描电子显微镜 avec BSE - 背散射电子），空间分辨率可达纳米级。 组件 电子枪采用肖特基场发射器，亮度高，相干性好，使用寿命长达数千小时。电子枪的高亮度和小型虚拟源允许传输和扫描模式。 电子光学中使用了永磁透镜 ...
... 用于亚纳米级纳米材料表征的UHR SEM 对下一代材料（如催化剂结构、纳米管、纳米颗粒和其他纳米级结构）进行高分辨率和高对比度成像。 适用于亚纳米尺度的SEM/STEM计量的优秀平台 电子束的快速设置--飞行中的光束追踪™保证了最佳的成像条件 多检测器系统TriBE™和TriSE™用于样品的纳米表征 直观的软件模块化平台设计，无论用户的技术水平如何，都可以轻松操作 ...
TESCAN GmbH
... 、薄膜和合成颗粒的纳米级形态、化学和结构特性的多模式表征，具有突出的4D-STEM性能和前所未有的实用性。 扫描与衍射成像、EDS采集和光束消隐的同步化。 集成的、接近实时的4D-STEM数据分析和处理 电子束预演和近UHV的性能优势 STEM用户体验的一种新方法 分析性4D-STEM 电子束与试样相互作用的全貌 4D-STEM是对材料特性（如形态、化学和结构）进行真正的纳米级、多模式表征的首选显微镜方法。在STEM数据集中的每个像素，TESCAN ...
TESCAN GmbH
... 坚固的设计，全金属框架，适用于大学和STEM市场；具有双提手，有8种不同的颜色供实验室识别，LED照明是所有型号的标准。 ...
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