STEM显微镜

光学用于纳米表征用于材料研究

用于功能材料、薄膜和合成颗粒的纳米级形态、化学和结构特性的多模式表征，具有突出的4D-STEM性能和前所未有的实用性。 扫描与衍射成像、EDS采集和光束消隐的同步化。 集成的、接近实时的4D-STEM数据分析和处理 电子束预演和近UHV的性能优势 STEM用户体验的一种新方法 分析性4D-STEM 电子束与试样相互作用的全貌 4D-STEM是对材料特性（如形态、化学和结构）进行真正的纳米级、多模式表征的首选显微镜方法。在STEM数据集中的每个像素，TESCAN TENSOR都能快速、完美地同步获得衍射图案和EDS光谱。衍射和光谱数据共同囊括了电子束与试样相互作用的全貌，从中可以得出广泛的材料特性。 4D-STEM数据的近实时分析和处理 TESCAN TENSOR的一个真正独特的功能是Explore，TENSOR的集成平台用于实时处理和分析大规模的扫描电子衍射数据集。 Explore将4D-STEM测量带给材料科学家、半导体研究人员和故障分析以及晶体学家，而不需要STEM光学或4D-STEM数据分析和后处理的专家知识。 高级用户可以根据自己的喜好，为每个STEM或4D-STEM测量调整预设的优化光学特性。此外、