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... MultiMode® 平台长期以来的成功是基于其卓越的分辨率、性能以及无与伦比的多功能性和生产率。MultiMode 8-HR 原子力显微镜 (AFM) 通过更高速的 PeakForce Tapping®、增强型 PeakForce QNM®、新的 FASTForce Volume 和独有的布鲁克探针技术，进一步提高了成像速度、分辨率和纳米机械性能。 最高 分辨率成像 使研究人员能够对分子和生物结构（如蛋白质或 DNA 双螺旋）进行常规最详细的成像。 简便 专家级质量的结果 让各种经验水平的用户都能更快、更稳定地获得最高质量的结果。 无限制 开放访问的灵活性 支持多种附件，可根据具体应用定制原子力显微镜。 NanoScope ...
Bruker Nano Surfaces
... 布鲁克公司的 Dimension XR 扫描探针显微镜 (SPM) 系统融合了数十年的研究和技术创新成果。该系统具有常规原子缺陷分辨率，以及一系列独特的技术，包括 PeakForce Tapping®、DataCube 模式、SECM 和 AFM-nDMA，可提供最高的性能和能力。Dimension XR 系列 SPM 将这些技术集成到交钥匙解决方案中，用于纳米机械、纳米电气和电化学应用。对空气、流体、电气或化学反应环境中的材料和活性纳米级系统进行定量从未如此简单。 高光谱 纳米电气表征 包括最完整的电原子力显微镜技术阵列，用于功能材料、半导体和能源研究的表征。 100 ...
Bruker Nano Surfaces
... JPK NanoWizard® V 结合了高时空分辨率和大扫描面积、灵活的实验设计以及与先进光学显微镜系统的出色集成。系统参数的自动设置、校准和重新调整为长期、自我调节的实验系列提供了新的可能性。 自动化 完善性能，提高生产率 自动化设置、工作流程和校准为长期、自我调节的实验系列和复杂的实验程序提供了新的可能性。 纳米机械 定量成像 借助先进的力控制，对单分子、细胞、组织和高度精细的样品进行纳米力学表征。 快速扫描 400 条/秒 通过基于智能的自适应扫描程序、快速力图和分子识别，实时研究动态生物过程。 了解第五代 ...
Bruker Nano Surfaces
... 用于功能材料、薄膜和合成颗粒的纳米级形态、化学和结构特性的多模式表征，具有突出的4D-STEM性能和前所未有的实用性。 扫描与衍射成像、EDS采集和光束消隐的同步化。 集成的、接近实时的4D-STEM数据分析和处理 电子束预演和近UHV的性能优势 STEM用户体验的一种新方法 分析性4D-STEM 电子束与试样相互作用的全貌 4D-STEM是对材料特性（如形态、化学和结构）进行真正的纳米级、多模式表征的首选显微镜方法。在STEM数据集中的每个像素，TESCAN TENSOR都能快速、完美地同步获得衍射图案和EDS光谱。衍射和光谱数据共同囊括了电子束与试样相互作用的全貌，从中可以得出广泛的材料特性。 4D-STEM数据的近实时分析和处理 TESCAN ...