扫描探针显微镜 Dimension XR

用于纳米表征台式高解析度

布鲁克公司的 Dimension XR 扫描探针显微镜 (SPM) 系统融合了数十年的研究和技术创新成果。该系统具有常规原子缺陷分辨率，以及一系列独特的技术，包括 PeakForce Tapping®、DataCube 模式、SECM 和 AFM-nDMA，可提供最高的性能和能力。Dimension XR 系列 SPM 将这些技术集成到交钥匙解决方案中，用于纳米机械、纳米电气和电化学应用。对空气、流体、电气或化学反应环境中的材料和活性纳米级系统进行定量从未如此简单。 高光谱 纳米电气表征 包括最完整的电原子力显微镜技术阵列，用于功能材料、半导体和能源研究的表征。 100 纳米以下 电化学成像 为定量分析与电池、燃料电池和腐蚀有关的局部电化学活动提供了最高分辨率的整体解决方案。 开箱即用 纳米机械分析 提供完全定量的全套技术，用于关联材料的结构和纳米力学性能。 XR 纳米力学提供一系列模式，可全面检测最小的结构，空间分辨率可达聚合物链的亚分子单元。研究人员利用我们专有的 AFM-nDMA™ 模式，将纳米力学数据与块体 DMA 和纳米鉴定方法相关联。实现从软粘性水凝胶和复合材料到硬金属和陶瓷的可量化纳米级表征。