FIB显微镜 AMBER X

FIB/SEM用于生物学用于生命科学

TESCAN AMBER X是一款高性能聚焦等离子体离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM），适用于超大体积分析和高通量低温应用。TESCAN AMBER X配备了iFIB+柱子，支持以前用Ga FIB系统进行的低温FIB应用，只需一小部分时间，就能获得等离子体FIB固有的超快材料去除率。隐藏在样品深处的特征可以在几分钟内暴露出来，而使用传统的Ga FIB研磨则需要几个小时。 AMBER X cryo非常适用于坚硬的生物材料，如骨骼或贝壳，可以很容易地以FIB系统所期望的精度进行切片。TESCAN专有的防止伪影方法允许对软组织、多孔材料或不同硬度的区域进行三维FIB-SEM断层扫描，而无需在图像后期处理中去除人工条纹。AMBER X卓越的FIB视场可覆盖到1毫米，用于横断面和大体积分析。 AMBER X低温是服务于生命科学和材料科学的核心设施和成像及显微镜中心的理想选择，它具有处理各种材料和标本的多功能性，在常温或低温条件下均可使用。 主要优点 通过使用iFIB+等离子体FIB柱更快地进行材料去除和样品减薄，消除您的低温ET样品制备工作流程中的最大瓶颈。 利用高性能的等离子体FIB和高通量低温电镜样品制备所必需的优化工作流程，在几分钟内完成低温在网薄层的制备。