光学显微镜 VEGA

SEM检查实验室

TESCAN VEGA的第四代扫描电子显微镜（SEM）带有钨丝电子源，在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中结合了SEM成像和实时元素成分分析。这种结合大大简化了样品形态和元素数据的获取，使VEGA SEM成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料检测的高效分析解决方案。 分析平台具有完全集成的TESCAN Essence™ EDS，它在一个Essence™软件窗口中有效地结合了SEM成像和元素成分分析。 由于TESCAN独特的无孔光学设计由飞行中的光束追踪™提供支持，可立即获得最佳的成像和分析条件。 由于独特的宽视场光学系统™设计，在低至2倍的放大率下，不需要额外的光学导航相机就能在样品上进行轻松而精确的SEM导航。 SingleVac™模式是观察充电和光束敏感样品的标准功能。 直观和模块化的Essence™软件，无论用户的经验水平如何，都可以轻松操作。 当平台和样品处于运动状态时，Essence™ 三维碰撞模型保证了腔体安装探测器的最终安全性。 可选的真空缓冲器大大减少了真空旋转泵的运行时间，带来了生态和经济的双重效益。 模块化的分析平台，可选择配备最广泛的全集成检测器（如CL、水冷BSE或RAMAN光谱仪）。