{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
空间分辨率: 1.6, 2.1, 4 nm
... 在这一独特的系统中，Ga-FIB 柱和 FE-SEM 柱互成直角。这种配置非常适合大体积（生物组织、具有大晶粒结构的材料、半导体元件等）的三维分析应用，即使在视野非常宽的情况下也不会失真，并具有最高的分辨率。三维 EBSD 分析还可以在样品完全静止的情况下进行，即在 FIB 切割和 EBSD 层分析之间样品不会移动。 ...
空间分辨率: 2.8, 60, 4, 3.5 nm
... NX2000 是专为半导体应用（利用 KLARF 坐标导入进行缺陷分析、TEM 薄片提取、器件开发）而优化的 FIB-SEM。样品台的 X、Y 行程为 205 x 205 毫米，甚至可以在不旋转样品的情况下对 200 毫米晶片进行全表面处理。垂直安装的 Ga FIB 可在 30 kV 电压下提供高达 100nA 的离子电流。FE-SEM 柱配备了冷场发射器。 ...
空间分辨率: 4, 60, 0.7, 50, 1.5 nm
“Ethos”采用日立高新的核心技术--高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时实现实时观察。 SEM镜筒内标配3个探测器，可同时观察到二次电子信号的形貌像以及背散射电子信号的成分衬度像；可非常方便的帮助FIB找寻到纳米尺度的目标物，对其观察以及加工分析。 另外，全新设计的超大样品仓设置了多个附件接口，可安装EDS*1和EBSD*2等各种分析仪器。而且NX5000标配超大防振样品台，可全面加工并观察最大直径为150mm的样品 ...
... AMBER X是一款高性能聚焦等离子体离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM），适用于超大体积分析和高通量低温应用。TESCAN AMBER X配备了iFIB+柱子，支持以前用Ga FIB系统进行的低温FIB应用，只需一小部分时间，就能获得等离子体FIB固有的超快材料去除率。隐藏在样品深处的特征可以在几分钟内暴露出来，而使用传统的Ga ...
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