X射线光谱仪 NEX DE VS

EDXRFXRF检查

功能强大的无损定性和定量元素分析 理学 NEX DE 系列是高性能、直接激发型 EDXRF 光谱仪，具有卓越的元素分析能力。利用高能 X 射线管，这些仪器提供了卓越的分析性能，包括更高的计数率、更高的精度，甚至能够轻松分析具有挑战性的材料。这种多功能性使 NEX DE 系列能够满足从苛刻的质量控制需求到需要小点分析的各种应用。该系列包括 NEX DE 和 NEX DE VS。 用高性能的 EDXRF 增强您的分析能力 NEX DE 和 NEX DE VS 型号可在分析时间或样品处理量至关重要的情况下提供高性能结果。它们专为提高速度和精度而设计，这对于大批量分析实验室或快节奏环境非常重要。 它们有一个 60 kV、12 W 的 X 射线管，单层和多层管过滤器，以及一个支持超过 500K cps 计数率的高性能硅漂移探测器 (SDD)。高计数率提供了较低的检测限和出色的光谱分辨率，并可通过各种可互换的自动样品更换器进行高通量测量。这些特点使其能够在最短的测量时间内获得高精度的分析结果。 此外，这些仪器还配有 QuantEZ 软件，旨在简化方法开发过程，最大限度地节省您的时间。直观的仪器控制、简单的菜单导航和 EZ 分析界面简化了常规操作，并允许您使用简单的流程条向导创建新方法。