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长度: 580 mm
宽度: 340 mm
高度: 550 mm
中红外光谱InfraLUM® FT-08设计基于我们对红外光谱分析（红外分光光谱）的专业知识以及大量研究开发设计，用途广泛，方便操作，满足实验室检测需求，高性能DTGS检测器和多配件选择保证测量数据的高精准度。运行成本低，使用方便，易于维护。 产品原理 基于傅立叶变换技术测量红外光谱 产品应用 化工行业 ♢ 不明化学物质鉴定 ♢ 原料纯度测定 ♢ 生物燃料分析（FAME的浓度） ♢ 测定石油馏分组成 ...
宽度: 114 cm
高度: 85 cm
重量: 191 kg
... NexION® 5000 多四极ICP-MS是同类产品中首款拥有四个四极杆的ICP-MS，其创新设计可满足并超越超痕量元素应用的苛刻要求。它具有极低的本底当量浓度和出色的检测限，是确保获得准确、可重复结果的关键。此外，它还具有卓越的干扰消除能力、超强的稳定性和无与伦比的基质容限，结果值得信赖。了解 NexION 5000 如何使 ICP-MS 性能超越传统的三重四极杆。 NexION 5000 不仅拥有四重四极杆，还荣获了三项殊荣：威利分析科学奖、分析科学家创新奖和研发 ...
宽度: 46.3 cm
高度: 38.2 cm
重量: 65 kg
... 从工业质量控制到高级研究应用的强化元素分析 NEX CG II 系列是功能强大的第二代能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪，可快速定性和定量测定各种类型样品（从油和液体到固体、金属、聚合物、粉末、浆料、涂层和薄膜）中的主要和次要原子元素。 理学 NEX CG II 系列是多元素、多用途分析仪，是测量超低和痕量元素浓度到百分比水平的理想之选。这些分析仪服务于许多行业，尤其适用于半定量测定完全未知元素的含量。应用范围从工业和工厂内质量保证到研究与开发。非专业操作人员也能轻松使用，但其强大的功能足以满足商业实验室和研发机构专家的需求。用户可以实现最低检测限，并轻松管理复杂的应用。NEX ...
... 为半导体研发、故障分析和纳米污染物识别增加了 300 毫米的取样通道 Dimension IconIR300™ 大样品纳米红外系统为半导体应用提供高速、高精度的纳米级表征，具有无与伦比的功能、样品尺寸和材料类型灵活性。IconIR300 结合了专有的光热红外光谱和纳米级原子力显微镜属性映射功能，可在最广泛的晶圆和光掩膜样品上实现自动晶圆检测和缺陷识别。该系统将原子力显微镜-红外技术的应用范围大大扩展到半导体行业的各个细分领域，超出了传统技术的范围。 IconIR300 ...
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