对于要求更高的应用,或者对于分析时间或样品产量至关重要的情况,理学提供了新的NEX QC+光谱仪。采用新一代的硅检测器技术,增强的NEX QC+在元素峰的分辨率和计数统计方面有明显的改善,从而为最具挑战性的测量提供了卓越的校准和测量精度。
用于质量控制应用的EDXRF
专门为常规的质量控制应用而设计,新的理学NEX QC+具有一个直观的 "图标驱动 "的触摸屏界面,以方便操作和一个内置的打印机。
高精度和广泛的元素覆盖的EDXRF
闭合的50千伏X射线管和珀尔帖冷却的半导体检测器提供了卓越的短期重复性和长期的可重复性,以及出色的元素峰值分辨率。这种高电压能力(50 kV),加上多种自动X射线管过滤器,提供了广泛的应用通用性和低检测极限(LOD)。
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