XtalCheck-S 是一款功能强大、使用方便的可安装角度计的 x、y、z 平台,用于对 96 孔 SBS 格式结晶板中的各类固体样品进行序列筛选。
产品概述
XtalCheck-S 主要用于在结晶环境中对蛋白质晶体进行原位筛选,也可用于快速筛选粉末样品。一旦粉末样品被固定在专用孔中,晶体分析师就可以使用数据采集程序 CrysAlisPro,与处理单个晶体的方法完全相同:无论样品类型如何,点选对象和居中、在多个孔中逐一筛选多个对象或将多个候选对象排队供后续筛选等功能的操作方式都是一样的。
理学成功地进行了一项实验,将粉末样品置于专用孔中,事先用极少量的 PARATONE 油润湿,以防止将平板垂直安装在光束前时粉末脱落。粉末颗粒在孔中保持稳定,即使曝光时间较长,也能满足筛选多个颗粒所需的全部时间。重要的是,由于使用了伸缩雪橇,探测器可以根据需要进行后退,以确保德拜-谢勒环的正确分辨率。最后,通过让平板沿欧米茄光束旋转约 25°,收集了部分数据集。CrysAlisPro 自动合并图像,生成单个散射图像,并从中无缝生成 I vs. 2θ 的二维图。
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