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倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 1.2, 0.4 nm
专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 特点 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.0 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。 具有电子光学系统自动调整功能。
Hitachi High-Tech Europe GmbH
倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm
... 可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* 红外CCD探测器，提高了样品台移动的安全性 ■支持全视野移动。SEM MAP支持超大样品的全视野观察 与GUI联合，可配备样品仓室导航相机 覆盖整个可观察区域 支持360度旋转 ②随着各种自动化功能的强化，操作性能得到了进一步优化。 ■一个鼠标就能够轻松操作的简约GUI ■各种自动化功能 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
倍率: 6, 8,000,000 unit
空间分辨率: 15, 4 nm
... 可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率 凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质 全新的用户界面，无论用户的熟练程度如何，都可实现高画质和高处理能力 全新的定位功能“SEM ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... 它将高分辨率成像与光学显微镜的小体积结合在一起。它由四个独立部分组成：显微镜、电子单元、真空系统和 PC。占地面积小、无需暗室、无需冷却水、维修方便......所有这些都使该仪器成为一台多用途的个人或集体电子显微镜。 高对比度 LVEM5 是一种独特的研究工具，无需使用重金属染色和阴影，即可观察由高对比度的轻元素组成的物体。 多种成像模式可供选择 LVEM5 ...
倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.4, 0.7 nm
专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 特点 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 1.0 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。 具有电子光学系统自动调整功能。
Hitachi High-Technologies
倍率: 1,000,000 unit
... 该界面是所有TESCAN SEM和FIB-SEM仪器的核心。在TESCAN VEGA Compact上学习的操作者可以很容易地过渡到其他TESCAN显微镜上，或者调整Essence软件环境的一些功能，以配合实验室中其他仪器的图形用户界面。 主要优点 VEGA Compact的大样品室提供了分析多个样品或大型样品的空间，以及真正的高真空以获得可靠的EDS结果，使样品处理速度更快。 利用TESCAN可选的完全集成的Essence™ ...
TESCAN GmbH
... 直到今天，您对经济实惠、易于使用的高分辨率成像工具的选择仍然有限。有了我们的电子显微镜，您就可以在亚微米和纳米尺度上进行观察。 我们的个人扫描电子显微镜(SEM)可以帮助您超越光学的限制。 扫描电镜的放大倍数是传统光学显微镜的20倍，它将高分辨率成像与极易使用相结合。工程师、研究人员、教育工作者和学生只需经过10分钟的培训，就能制作出高质量的亚微米图像。 该系统是对亚微米颗粒、纤维、微型工具、电子元件等进行详细成像的理想选择。光学相机、电动平台和触摸屏用户界面一起工作，帮助您从24倍 ...
倍率: 150 unit
空间分辨率: 5 nm
... 这台电子显微镜是第一台高级台式扫描电镜，结合了5轴全电动平台和一个大的腔室，可以容纳大的样品。高电压可在1至30千伏之间调节（6级）。 - 兼容Window 10 - 5轴完全电动化 - 倾斜度从-45到+90度，可以完美观察样品。 - 允许用成对的SE立体图像或从4个BSE图像进行三维重建 - 可为EBSD提供70度的倾斜（选择）。 - 最大样品尺寸：直径80mm，厚度40mm 易于使用的图形界面 带有平台导航器的CCD相机 附在SEM上的CCD相机可以捕捉到样品架和样品的图像。 该图像会自动加载到 ...
倍率: 25 unit - 200,000 unit
重量: 330 kg
长度: 835 mm
... FusionScope 是一款 AFM/SEM 关联显微镜，其设计初衷就是让您能够无缝利用这两种分析方法。在大多数分析中，通常需要使用多种技术分析样品，以寻找参数之间的相关性。对于原子力显微镜（AFM）和扫描电子显微镜（SEM）等成像技术而言，这往往意味着您需要分析完全相同的区域。FusionScope ...
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