自动样本制备系统 IM4000 II

用于 SEM冷却离子束铣削

高铣削速率：快速高效地制备硬质材料样品 横截面与平面铣削：针对不同应用提供灵活的选择 低温冷却（可选）：减少对温度敏感样品的损伤 用户友好型界面：直观的触摸屏控制，操作简便 针对SEM和AFM优化：兼容日立及第三方显微镜 概述 日立IM4000II和IM5000离子刻蚀系统为扫描电子显微镜提供高精度样品制备。 无论您是分析金属、半导体、聚合物、陶瓷还是层状材料，这些系统都能确保获得高质量的横截面和表面抛光效果，同时将伪影降至最低。 这两款系统专为学术研究、工业质量控制和材料科学实验室设计，可提供快速、可重复的结果，是先进电子显微镜应用中不可或缺的工具。 IM4000II 是一款集横截面和/或平面刻蚀功能于一体的系统，对于需要基础样品制备工具的实验室而言，是一个灵活的选择。 更先进的 IM5000 具有更高的铣削速率和大面积横截面铣削能力，非常适合要求苛刻的应用以及需要高通量的实验室。 特点与优势 在不影响样品完整性的前提下缩短周转时间。 IM4000II 的研磨速率可达 500 μm/h，而 IM5000 则可达到 1 mm/h 或更高（针对突出部分为 100 μm 的硅样品）。 非常适合需要长时间研磨的硬质材料，如金属和半导体。 灵活制备完全符合您需求的样品。