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... TESCAN VEGA的第四代扫描电子显微镜（SEM）带有钨丝电子源，在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中结合了SEM成像和实时元素成分分析。这种结合大大简化了样品形态和元素数据的获取，使VEGA SEM成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料检测的高效分析解决方案。 分析平台具有完全集成的TESCAN Essence™ EDS，它在一个Essence™软件窗口中有效地结合了SEM成像和元素成分分析。 由于TESCAN独特的无孔光学设计由飞行中的光束追踪™提供支持，可立即获得最佳的成像和分析条件 ...
TESCAN GmbH
... TESCAN MIRA的第四代扫描电子显微镜（SEM）带有FEG肖特基电子发射源，在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中结合了SEM成像和实时元素成分分析。这种结合大大简化了样品形态和元素数据的获取，使MIRA SEM成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料检测的高效分析解决方案。 分析平台具有完全集成的TESCAN Essence™ EDS，在一个Essence™软件窗口中有效结合了SEM成像和元素成分分析。 由于TESCAN独特的无孔光学设计由飞行中的光束追踪™提供支持，可立即获得最佳的成像和分析条件 ...
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... 在纳米尺度上对所有类型的材料进行无损的表征 在低光束能量下表征材料的理想选择，以获得最大的表面形貌 对光束敏感和不导电的样品有很好的成像效果 电子束的完全自动化设置--飞行中光束追踪™保证了最佳的成像条件 直观的实时SEM导航，放大倍数低至2倍，无需额外的光学导航相机，这要归功于宽场光学系统™的设计 独特的束内多检测器设计允许角度和能量选择性的BSE检测 直观的软件模块化平台，无论用户的技术水平如何，都能轻松操作 ...
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... 用于功能材料、薄膜和合成颗粒的纳米级形态、化学和结构特性的多模式表征，具有突出的4D-STEM性能和前所未有的实用性。 扫描与衍射成像、EDS采集和光束消隐的同步化。 集成的、接近实时的4D-STEM数据分析和处理 电子束预演和近UHV的性能优势 STEM用户体验的一种新方法 分析性4D-STEM 电子束与试样相互作用的全貌 4D-STEM是对材料特性（如形态、化学和结构）进行真正的纳米级、多模式表征的首选显微镜方法。在STEM数据集中的每个像素，TESCAN ...
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