HITACHI二次电子显微镜

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 0.6 nm

... 随着快速数据采集和数据处理技术的发展， 电子 显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括 自动获取数据等高通量的功能。 超高分辨观察和超强分析能力 日立的高亮度肖特基场发射 电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下，仅用0.1 ...

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.9 nm

... 是一台实现了获取大量信息的新型扫描电镜，可以满足客户的多种观察需求。 接下来请欣赏SU7000带来的多彩世界。 核心理念 1.采用优异的成像技术 SU7000可以迅速获取从大视野全貌图到表面微细结构等多种检测信号。全新设计的 电子光学系统和检测系统，使得装置可以同时接收 二次 电子和背散射 电子等信号，用户可以在短时间内获得更全面的样品信息。 2.采用多通道成像技术 随着用户对成像需求的不断增长，SU7000特新增了几种探测器，还引进了相应的成像功能。SU7000最多可同时显示和保存6通道信号。实现了获得样品信息的最大化 ...

倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm

... 支持超大样品的全视野观察 与GUI联合，可配备样品仓室导航相机 覆盖整个可观察区域 支持360度旋转 ②随着各种 自动化功能的强化，操作性能得到了进一步优化。 ■一个鼠标就能够轻松操作的简约GUI ■各种 自动化功能 自动调整算法经改良后，等待时间减少至以往的1/3以下(※S-3700N比例) 提高了 自动聚焦精度 搭载Intelligent ...

倍率: 6, 8,000,000 unit
空间分辨率: 15, 4 nm

... 全新开发的用户界面和 电子光学系统让您深切体验其高性能。 特点 FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的 电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦 自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补 电子 显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1 电子 显微镜，仍可实现4.0 ...

倍率: 10 unit - 250,000 unit
长度: 617 mm

... 荷电减轻模式”。 可在低真空的条件下进行 二次 电子像（表面形状）观察。 无需预处理，也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面 不仅是观察传统的导电性样品，还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行 二次 电子像与背散射 电子像之间的切换。 高感度低真空 二次 电子检测器 采用高感度低真空 二次 电子检测器(UVD)。通过检测由于 电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光，可以观察带有 二次 电子信息的图像。此外，通过控制该检测器，来检测 电子照射所产生的光，可以获得CL信息（UVD-CL ...

倍率: 20 unit - 8,000,000 unit
空间分辨率: 0.08, 0.1 nm

... 空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。 透射 电子 显微镜除了延续了日立公司配备的球面像差校正器的功能、 自动校正功能，像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射 电子 显微镜HF系列中所积累的技术。 对于包括高端用户在内的广泛用户，我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。 特点 标配日立生产的照射系统球差校正器（附 自动校正功能） 搭载具有高辉度、高稳定性的冷场FE 电子枪 镜体和电源等的高稳定性使机体的性能大幅度提升 ...

空间分辨率: 2.8, 60, 4, 3.5 nm

... NX2000 是专为半导体应用（利用 KLARF 坐标导入进行缺陷分析、TEM 薄片提取、器件开发）而优化的 FIB-SEM。样品台的 X、Y 行程为 205 x 205 毫米，甚至可以在不旋转样品的情况下对 200 毫米晶片进行全表面处理。垂直安装的 Ga FIB 可在 30 kV 电压下提供高达 100nA 的离子电流。FE-SEM 柱配备了冷场发射器。 ...