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... ContourX-200 光学 轮廓仪完美融合了先进的特性分析、可定制的选项和易用性，是同类产品中速度最快、精度最高、重复性最好的非接触式三维表面 测量仪。该系统可装载量具，占地面积小，采用更大视场角的 500 万像素数码相机和新型电动 XY 平台，具有无与伦比的 2 D/3D 高分辨率 测量能力。凭借无与伦比的 Z 轴分辨率和精度，ContourX-200 ...
Bruker Nano Surfaces/布鲁克
... 采用这种独特的设计，结合我们新一代 光学 轮廓仪技术的易用性优势，可以 测量表面纹理和粗糙度，满足汽车、医疗和大规模增材制造等动态领域操作人员所需的生产能力和可重复性。 最灵活 大部件和高斜度接入 扩大 测量表面范围，提高数据可用性。 自动化 测量和分析 减少样品处理、 测量复杂性和结果生成时间。 卓越 易用性 让任何经验水平的操作员都能获得专家级的结果。 优化实验室和工厂车间的生产效率 NPFLEX-1000 ...
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... 提供恒定、精确的 测量，不受放大倍数的影响。 无与伦比 计量价值 在不影响 测量能力的前提下实现简化设计。 用户友好 软件界面 可直观访问大量预编程过滤器和分析库。 无与伦比的计量 WLI 可为所有目标提供恒定、极致的垂直分辨率。 ContourX-100 轮廓仪是四十多年来专有 光学创新的结晶，在非接触式表面计量、表征和成像领域处于行业领先地位。该系统采用 ...
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... ContourX-500 光学 轮廓仪是世界上用于快速、非接触式三维表面 测量的最全面的自动化台式系统。ContourX-500 具备量具能力，拥有无与伦比的 Z 轴分辨率和精度，并以更小的占地面积提供了业界公认的布鲁克白光干涉仪 (WLI) 落地式型号的所有优势。从精密加工表面和半导体工艺的 QA/QC 计量到 眼科和 MEMS 设备的研发表征，该 轮廓仪可轻松定制，以满足最广泛的复杂应用需求。 尖端/倾斜 光学头 可在一定角度范围内 测量表面特征，同时将跟踪误差降至最低。 最先进的 用户界面 ...
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... 系统在测针 轮廓分析技术领域一直处于行业领先地位，在分辨率、稳定性、速度和多功能性方面取得了里程碑式的改进。现在，Dektak 系统已被公认为测针 轮廓仪的黄金标准；在需要精确、可靠的测针 轮廓仪时，Dektak 一直是毋庸置疑的解决方案。 Dektak Pro 在测针 轮廓分析创新方面又向前迈进了一步，提供了更强的操作性、可靠性和 测量精度，以提高和扩展使 ...
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... 业界领先的自动化和分析软件 增强的软件功能使 Dektak XTL 成为功能强大、容易使用的探针式 轮廓仪。该系统利用 Vision64 软件，通过数百种内置分析工具实现众多的 测量位点、 3 D成像和高度自定义的特征分析。Vision64软件还能 测量形状，如曲率半径。模式识别可更大限度地减少操作员误差并提高 测量位置精度。集成化的软件包将数据收集和分析与直观的工作流程相结合。 Dektak ...
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