ContourX-200 光学轮廓仪完美融合了先进的特性分析、可定制的选项和易用性,是同类产品中速度最快、精度最高、重复性最好的非接触式三维表面测量仪。该系统可装载量具,占地面积小,采用更大视场角的 500 万像素数码相机和新型电动 XY 平台,具有无与伦比的 2D/3D 高分辨率测量能力。凭借无与伦比的 Z 轴分辨率和精度,ContourX-200 具有业界公认的布鲁克公司专有白光干涉测量 (WLI) 技术的所有优势,而不受传统共焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪的限制。
自动化
功能
启用例行程序,加快测量和分析速度。
电动
XY 平台
为定量测量提供低噪声、高速运行。
耐振动
设计紧凑
提供测量稳定性和可测量的重复性。
特点
无懈可击、同类最佳的计量性能
ContourX-200 光学轮廓仪以 WLI 四十多年的专利创新为基础,具有定量测量所需的低噪音、高速度、高精度和高准确度。利用多目标和集成的特征识别功能,可在各种视场内以亚纳米级垂直分辨率跟踪特征,为各行各业的质量控制和过程监控应用提供与尺度无关的结果。
ContourX-200 在从 0.05% 到 100% 反射率的所有表面情况下都非常稳定。新的硬件功能包括创新的平台设计,可实现更大的拼接能力
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