眼科3D轮廓测量仪 / 光学

... ContourX-200 光学轮廓仪完美融合了先进的特性分析、可定制的选项和易用性，是同类产品中速度最快、精度最高、重复性最好的非接触式三维表面测量仪。该系统可装载量具，占地面积小，采用更大视场角的 500 万像素数码相机和新型电动 XY 平台，具有无与伦比的 2D/3D 高分辨率测量能力。凭借无与伦比的 Z 轴分辨率和精度，ContourX-200 具有业界公认的布鲁克公司专有白光干涉测量 (WLI) 技术的所有优势，而不受传统共焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪的限制。 自动化 功能 启用例行程序，加快测量和分析速度。 电动 XY ...

... ContourX-100 光学轮廓仪以同类最佳的价格为精确、可重复的非接触式表面测量树立了新的标杆。该系统占地面积小，采用了布鲁克公司数十年来专有的白光干涉仪（WLI）创新技术，在精简的封装中提供了不折不扣的 2D/3D 高分辨率测量功能。下一代增强功能包括全新的 500 万像素摄像头和更新的平台，可实现更大的拼接能力，以及全新的测量模式 USI，为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供了更大的便利性和灵活性。没有比 ContourX-100 更物有所值的台式系统了。 行业最佳 Z ...

... ContourX-500 光学轮廓仪是世界上用于快速、非接触式三维表面测量的最全面的自动化台式系统。ContourX-500 具备量具能力，拥有无与伦比的 Z 轴分辨率和精度，并以更小的占地面积提供了业界公认的布鲁克白光干涉仪 (WLI) 落地式型号的所有优势。从精密加工表面和半导体工艺的 QA/QC 计量到眼科和 MEMS 设备的研发表征，该轮廓仪可轻松定制，以满足最广泛的复杂应用需求。 尖端/倾斜 光学头 可在一定角度范围内测量表面特征，同时将跟踪误差降至最低。 最先进的 用户界面 可直观访问大量预编程过滤器和分析库。 集成 空气隔离 节省空间，提供最佳计量精度。 专为无与伦比的台式计量而设计 布鲁克公司在显微镜头中专有的尖端/倾斜功能为用户的生产设置和检测提供了无与伦比的灵活性。通过将自动尖端/倾斜功能与显微镜头中的光路耦合，布鲁克公司将检测点与视线耦合在一起，与倾斜无关。这就减少了操作员的干预，提供了最大的可重复性。其他硬件功能包括可实现更大缝合能力的创新平台设计，以及可实现更低噪声、更大视场和更高横向分辨率的具有 ...

... NPFLEX-1000 落地式白光干涉仪（WLI）为精密加工质量保证/质量控制中评估大型零件的纳米到宏观特征提供了最精确、最灵活的解决方案。其主要特点包括大型开放式龙门、坚固耐用的桥式结构和旋转头设计，平台与物镜之间的距离为 300 毫米。这种独特的设计使 NPFLEX-1000 能够适应最广泛的样品尺寸和形状，并能进入最具挑战性的方向。 NPFLEX-1000 采用这种独特的设计，结合我们新一代光学轮廓仪技术的易用性优势，可以测量表面纹理和粗糙度，满足汽车、医疗和大规模增材制造等动态领域操作人员所需的生产能力和可重复性。 最灵活 大部件和高斜度接入 扩大测量表面范围，提高数据可用性。 自动化 测量和分析 减少样品处理、测量复杂性和结果生成时间。 卓越 易用性 让任何经验水平的操作员都能获得专家级的结果。 优化实验室和工厂车间的生产效率 NPFLEX-1000 ...

... DektakXT® 测针轮廓仪采用了革命性的台式设计，实现了无与伦比的 4Å 重复性，扫描速度提高了 40%。测针轮廓仪性能的这一重要里程碑是 Dektak® 五十多年创新和行业领先地位的结晶。DektakXT 集多项行业第一于一身，在性能、易用性和价值方面都达到了极致，使从研发到质量控制的过程监控更加完善。DektakXT 的技术突破为微电子、半导体、太阳能、高亮度 LED、医疗和材料科学行业实现了关键的纳米级表面测量。 4 埃 重复性 提供行业领先的精度。 单拱 设计 提供突破性的扫描稳定性。 自动对准 测针 可轻松更换针尖。 特点 加速数据采集和分析 利用独特的直接驱动扫描平台，DektakXT ...

... Dektak XTL™ 测针轮廓仪适用于最大 350 毫米 x 350 毫米的样品，为大型晶片和面板制造带来了传奇的 Dektak® 可重复性和再现性。Dektak XTL 具有气动隔振功能和全封闭工作站，带有易于接近的互锁门，非常适合当今苛刻的生产车间环境。它的双摄像头结构可增强空间感知能力，其高度自动化可最大限度地提高生产吞吐量。 坚固耐用 自动化设置和操作 对靶标和无限测量点进行编程，以最大限度地提高产量和减少误差。 双重 摄像头控制 简化测量设置，更快地导航到感兴趣的点。 简便 分析和数据收集 自动执行分析程序，仅报告复杂样品的所需特征。 功能特点 增强的软件功能使 ...

TopMap Micro.View是易于使用且紧凑的光学轮廓仪。 结合卓越的性能及实惠价格并具有强大的计量解决方案并。Micro.View的垂直测量范围可扩展到100 毫米和CST连续扫描技术，可在纳米分辨率下测量复杂的形貌。 这种便捷的桌面设置具有集成的电子设备，并带有智能聚焦查找器，可简化并加快测量过程。 亮点 在紧凑的装置中测量表面光洁度 非接触式3D地形，粗糙度和纹理的测量 采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围 可从特定于应用程序中选择 用于表面表征的显微镜测量系统 白光干涉仪可捕捉精密表面最精细的结构细节。 ...

pMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计，可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度，纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来，实现惊人的可视化和扩展分析，如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。 TopMap Micro.View是您可以信赖的精密测量技术。相信我们的经验，相信我们的专业知识，相信我们的专家。了解更多关于产品研发的幕后故事。快来加入我们的旅程吧 亮点 纳米级分辨率的高端白光干涉仪 采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围 配有自动“对焦仪”和“对焦跟踪器”进行自动化 电动X，Y，Z，倾斜调平台和转塔无需再重新定位 用于缺陷扩展分析和文档记录的颜色信息模式 模块化，特定于应用程序的配置 启用自动化且可投入生产线 编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 ...

TopMap Pro.Surf 可快速、可靠、精确地确定形状偏差。TopMap Pro.Surf 是一种高端解决方案，具有较高的重复性，非常适合测量计量室或靠近生产区域，甚至是生产线中的精密制造表面。TopMap Pro.Surf 使用诸如平面度、台阶高度和平行度等参数为所有表面特性要求提供定制解决方案。总之，空间分辨率、远心镜头和速度会令您印象深刻 亮点 快速和精确地表征 3D 表面。 非接触式测量原理和可追溯的测量结果 可用于几乎所有表面的智能表面扫描技术和滤光轮 230 ...

新的 TopMap Pro.Surf+ 通过一个步骤即能确定形状偏差和粗糙度，快速、可靠、精确、方便。TopMap Pro.Surf是一种高端解决方案，正在升级以创建一体化设备，这主要归功于集成粗糙度传感器和新的数据采集概念。Pro.Surf+ 非常适合于快速、轻松地测量计量室或靠近生产区域，甚至是生产线中的精密制造表面，这多亏了其所具有的较高的重复 亮点 快速和精确地表征 3D 表面，以及粗糙度测量 一体化系统不会忽略任何细节 非接触式测量原理和可追溯的测量结果 可用于几乎所有表面的智能表面扫描技术和滤光轮 230 ...

Polytec 的 TopMap Metro.Lab 是一种高精度白光干涉仪（相干扫描干涉仪），具有大的垂直范围和纳米分辨率。这意味着 Metro.Lab 外形测量系统非常适合非接触式测量大面积表面和结构，甚至是柔软和精密材料的平面度、台阶高度和平行度。 作为一个完整的测量站，TopMap Metro.Lab 是您想要测量几乎所有表面上的大面积外形的最佳解决方案。即使在困难条件下，70mm 的大垂直测量范围也允许您使用亚纳米分辨率进行测量。 由于 TopMap ...

空间分辨率: 530, 460 nm
长度: 600 mm
宽度: 550 mm

S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。 解决方案 大面积 3D 光学测量系统 先进制造业 古学与古生物学 消费类电子产品 医疗设备 模塑 光学 钟表业

倍率: 20, 5, 100, 50, 150 unit
空间分辨率: 630, 530, 460, 575 nm
长度: 610 mm

新型 S neox 在性能、功能、效 率和设计方面优于现有的 3D光 学轮廓仪，是Sensofar 的新一 代高端测量系统。 前所未有的速度 通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机，达到前所未有的速度。数据采集速度达 180 fps。标准测量采集速度比以前快 5 倍。S neox 成为市场上速度最快的表面测量系统。 易于使用 Sensofar 致力于为客户提供最令人难以置信的体验。随着第五代 S neox 系统的诞生，我们的目标是使其易于使用、直观且更快速。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量。模块化设计的软件，使系统适应用户多样的需求。

倍率: 5, 150, 20, 50, 100 unit
空间分辨率: 630, 530, 460, 575 nm
长度: 635 mm

此款S neox Five Axis 3D光学轮廓仪结合了高精度旋转模块和S neox 3D光学轮廓仪的先进检测和分析功能在指定的位置上实现全自动地3D表面测量，并结合在一起，完成全表面的3D立体测量。S neox 3D测量技术涵盖了广泛的尺度，包括轮廓变化（多焦面叠加技术)、亚纳米粗糙度（干涉测量技术）或需要更高横向分辨率以及垂直分辨率（共聚焦技术）的临界尺寸。 测量原理 盖了广泛的尺度 S neox 3D测量技术涵盖了广泛的尺度，包括轮廓变化（多焦面叠加技术)、亚纳米粗糙度（干涉测量技术）或需要更高横向分辨率以及垂直分辨率（共聚焦技术）的临界尺寸。 测量原理 应用范围广泛 S ...

倍率: 3, 10, 50, 100, 150 unit
空间分辨率: 550 nm
长度: 365 mm

Slynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D光学轮廓仪。它设计简洁、用途多样。Slynx能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌测量应用。Sensofar的核心专利是将3种测量方式融于一体，确保了其完美的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。 应用领域 汽车业 消费电子产品 能源行业 液晶显示屏 材料学 微电子学 微制造业 微体古生物学 光学器件 机床加工业 半导体行业 手表制造业 三合一技术 共聚焦技术 共聚焦技术可用于测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率，可达0.09μm,利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的物镜时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70（粗糙表面达86）。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。 干涉技术 共聚焦技术可用于测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率，可达0.09μm,利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的物镜时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70（粗糙表面达86）。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。 多焦面叠加技术 共聚焦技术可用于测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率，可达0.09μm,利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的物镜时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70（粗糙表面达86）。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。

长度: 800 mm
宽度: 695 mm
高度: 890 mm

... Pixie QI 具有高速度和灵活性，可对任何表面进行精确测量。 速度 灵活性 所有表面类型 测量可能性 速度和灵活性 用于在线质量检测的生产速度测量和分析。表面形貌和强度的采样频率可达 2.5 kHz，采样精度达到亚微米级。 定制自动化解决方案，满足客户的特定需求。与额外的电动平台、取放机器人或集成统计过程控制 (SPC) 相结合。 所有表面类型和测量可能性 可测量具有挑战性的材料和形状，如光面、亚光面、镜面和各种颜色。还可以测量曲面和多层透明表面。 厚度、台阶高度、直径、定位、平面度、轮廓、间隙、轮廓对比和粗糙度等尺寸测量。视觉缺陷，如斑点、杂质、划痕、气泡、空隙和箔片的连续性。 技术规格 轴移动（度） 2-5 2-5 ...