眼科3D轮廓测量仪 / 光学 TopMap Micro.View®+

多功能3D按地形划分

pMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计，可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度，纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来，实现惊人的可视化和扩展分析，如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。 TopMap Micro.View是您可以信赖的精密测量技术。相信我们的经验，相信我们的专业知识，相信我们的专家。了解更多关于产品研发的幕后故事。快来加入我们的旅程吧 亮点 纳米级分辨率的高端白光干涉仪 采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围 配有自动“对焦仪”和“对焦跟踪器”进行自动化 电动X，Y，Z，倾斜调平台和转塔无需再重新定位 用于缺陷扩展分析和文档记录的颜色信息模式 模块化，特定于应用程序的配置 启用自动化且可投入生产线 编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 Micro.View+ 采用最新的“对焦仪”和“焦点追踪器”，使表面在任何情况下都保持聚焦。 采用全电动的样品定位台可实现缝合和自动化。 以 3D 方式表征小细节和微观结构，以亚纳米分辨率评估区域表面粗糙度 Sa，并以干涉精度评估甚至陡峭的角度。 Micro.View 和 Micro.View+ 是基于相干扫描技术 (CSI) 的表面轮廓仪，无论物镜放大倍数如何，都能提供出色的垂直分辨率。采用连续扫描技术 (CST)、100 毫米 Z 轴行程和 100 毫米相等的垂直测量范围、高达 5 MP 的相机、从 2.5X（0.6X！）到 111X 的各种物镜，包括长工作距离选项和玻璃补偿，并预设ISO参数包括ISO 25178、ASME B46.1、ISO 4287、ISO 13565、ISO 21920...