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Auto SE是一种新型的按键式全自动薄膜测量分析工具，仅需简单的几个按键操作，即可完成全自动测量和分析。
HORIBA Scientific/厚利巴
... Smart SE 是一款通用型薄膜测量工具。测试速度快，准确。它可以表征几埃到20µm薄膜厚度、光学常数（n, k）以及薄膜结构特性（如粗糙度、光学梯度及各向异性等）。 Smart SE利用 DeltaPsi2 软件平台在几分钟内对450-1000nm的光谱数据进行采集、建模分析。自动化双软件操作平台，从简化的工作流程到高端研发，满足不同层次和需求的客户。 Smart SE是一款性价比极高的薄膜研发工具，以经济实惠的价格提供了研究级的性能。标配一套完整样品可视化系统，准确定位分析位置及区域，7个不同尺寸的微光斑可用于微区特征分析。几秒钟即可获得完整的16位穆勒矩阵，用于复杂样本的研究。 Smart ...
HORIBA Scientific/厚利巴
... Angstrom Advanced 树立了椭偏仪的标准--以最实惠的价格提供最好的椭偏仪技术。Angstrom Advanced 提供用于薄膜厚度测量、折射率光学表征和消光系数分析（n 和 k）的全系列椭偏仪。我们的椭偏仪可用于多种不同的应用，并被麻省理工学院、美国国家航空航天局、加州大学伯克利分校、耶鲁大学、杜克大学、美国国家标准与技术研究院等最负盛名的实验室采用。 使用二极管阵列探测器或电机光谱仪（单色仪）在 250 - 1100 nm 的紫外/可见/近红外范围内进行快速测量 可将光谱范围扩展至近红外（700 ...