光谱分析椭率计 PHE 102

实验室

Angstrom Advanced 树立了椭偏仪的标准--以最实惠的价格提供最好的椭偏仪技术。Angstrom Advanced 提供用于薄膜厚度测量、折射率光学表征和消光系数分析（n 和 k）的全系列椭偏仪。我们的椭偏仪可用于多种不同的应用，并被麻省理工学院、美国国家航空航天局、加州大学伯克利分校、耶鲁大学、杜克大学、美国国家标准与技术研究院等最负盛名的实验室采用。 使用二极管阵列探测器或电机光谱仪（单色仪）在 250 - 1100 nm 的紫外/可见/近红外范围内进行快速测量 可将光谱范围扩展至近红外（700 - 1700 nm）或（700 - 2100 nm）。 可选择扩展紫外-可见光谱范围（190 - 1100 纳米） 旋转偏振器可精确测量任何偏振状态 步进扫描分析仪可实现高速、低噪音采集 10-90° 的可变角度 也可提供 10-90° 的自动角度 快速测定单层或多层样品的厚度和折射率 通过 PHE-102 软件自动测量和拟合宽范围 Psi 和 Delta 数据 PHE-102 软件是用于数据采集和分析的最全面的程序。它结合了最先进的数学拟合算法和大量建模选项，可进行快速准确的数据分析。先进的光谱椭偏仪软件 内置材料属性库，包括数百种材料模型 利用已知材料特性混合新材料