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空间分辨率: 2.8, 60, 4, 3.5 nm
... NX2000 是专为半导体应用（利用 KLARF 坐标导入进行缺陷分析、TEM 薄片提取、器件开发）而优化的 FIB-SEM。样品台的 X、Y 行程为 205 x 205 毫米，甚至可以在不旋转样品的情况下对 200 毫米晶片进行全表面处理。垂直安装的 Ga FIB 可在 30 kV 电压下提供高达 100nA 的离子电流。FE-SEM 柱配备了冷场发射器。 ...
... JPK NanoWizard® V 结合了高时空分辨率和大扫描面积、灵活的实验设计以及与先进光学显微镜系统的出色集成。系统参数的自动设置、校准和重新调整为长期、自我调节的实验系列提供了新的可能性。 自动化 完善性能，提高生产率 自动化设置、工作流程和校准为长期、自我调节的实验系列和复杂的实验程序提供了新的可能性。 纳米机械 定量成像 借助先进的力控制，对单分子、细胞、组织和高度精细的样品进行纳米力学表征。 快速扫描 400 条/秒 通过基于智能的自适应扫描程序、快速力图和分子识别，实时研究动态生物过程。 了解第五代 ...
倍率: 60, 100, 20, 40 unit
空间分辨率: 400 nm - 750 nm
... 科学家无需进行任何特殊的样品制备或染料处理，即可从生物样品中获取深度数据。 主要功能 分辨率 DeepSIM 依靠强大的多点晶格 SIM 技术，XY 分辨率达到 100 nm；与宽场显微镜相比，空间分辨率提高了 2 倍。 样品厚度 DeepSIM 设计用于厚度与共聚焦显微镜所用厚度相当的样品，在非澄清样品中提供深度超过 50 µm 的超分辨数据。这样，即使是原生的、异质的和复杂的样品也能得到更深入的研究。 多点晶格 SIM ...