AFM光谱仪 Dimension IconIR

红外FT-IR纳米技术

布鲁克公司的大样品 Dimension IconIR 系统将纳米级红外（IR）光谱和扫描探针显微镜（SPM）结合在一个平台上，为学术研究人员和工业用户提供最先进的光谱、成像和属性映射功能。IconIR 融合了数十年的研究和技术创新成果，在 Dimension Icon® 业界最佳原子力显微镜测量功能的基础上，提供了无与伦比的性能。该系统可进行相关显微镜和化学成像，具有更高的分辨率和单层灵敏度，其独特的大样品结构为最广泛的应用提供了最大的样品灵活性。例如，新的 IconIR 聚合物解决方案是一个一体化软件包，旨在包含满足关键聚合物研究需求所需的一切。 大样品 最高性能的纳米红外光谱 为各种样品类型和应用提供更高的灵活性和性能。 相关性 化学和纳米尺度性质绘图 提供定量的纳米化学、纳米机械和纳米电气数据。 光热 AFM-IR 成像 以单层灵敏度实现最高分辨率表征。 在单个系统中，IconIR 可提供最高性能的纳米级红外光谱、化学成像分辨率和单层灵敏度。 只有 Dimension IconIR 能够提供： 高性能纳米红外光谱，具有准确、可重复的傅立叶变换红外相关性、小于 10 纳米的化学分辨率和单层灵敏度 利用 PeakForce Tapping® 纳米机械和纳米电气模式进行相关化学成像