实验室椭率计 PHE101

Angstrom Advanced 树立了椭偏仪的标准--以最实惠的价格提供最好的椭偏仪技术。Angstrom Advanced 提供用于薄膜厚度测量、折射率光学表征和消光系数分析（n 和 k）的全系列椭偏仪。Angstrom Advanced 公司的椭偏仪可用于许多不同的应用，并被麻省理工学院、美国国家航空航天局（NASA）、加州大学伯克利分校、耶鲁大学、杜克大学、美国国家标准与技术研究院（NIST）等最负盛名的实验室采用。 PHE101 是最新的离散波长椭偏仪，具有许多新功能，如材料库、宽可变角度、用于校准的第二台激光器和功能强大的软件，使 PHE101 椭圆偏振仪具有高精度和高重复性。 出色的精度和重复性 快速旋转分析仪操作。 带材料库的强大软件 最大可变角度 10-90 自动对焦可补偿样品形貌和晶片 "弓形 "偏差 测量角度的高稳定性和再现性优于 0.01 测量速度小于 1 秒 PHE101 椭圆偏振仪是一款理想的离散波长椭偏仪，设计用于测量单层和多层薄膜的折射率、消光系数（n 和 k）和厚度。 PHE101 椭圆偏振计采用精密的光学分析仪/探测器和稳定的机械设计，读数快速准确。PHE101 椭圆偏振仪配有集成的 Windows 软件包，进一步提高了仪器的操作速度和简便性。