JEOL/日本电子株式会社显微镜
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... JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 配备了冷场发射枪、柱内欧米茄能量过滤器、侧入式液氮冷却台和自动标本交换系统,是一台低温电子 显微镜(cryo-EM),可在低温条件下观察生物分子。自动样本交换系统最多可储存 12 个样本。此外,该系统还可任意交换一个或多个样本,从而实现灵活的时间安排。此外,结合使用全新设计的柱内欧米茄能量过滤器和无孔相板,还能显著增强生物样本 TEM 图像的对比度。 特点 自动标本交换系统 该系统由一个将样本冷却到液氮温度的样本台和一个将冷却样本自动转移到低温台的低温转移系统组成 ...
Jeol/日本电子株式会社
空间分辨率: 0.05 nm - 0.17 nm
... 射线实体角和起飞角进一步优化了极片形状。 因此,FHP2 的有效 X 射线探测效率是 FHP 的两倍多。它可以提供亚埃施尔(sub-angstrom)分辨率的 EDS 元素图。 TEM 柱由箱式外壳覆盖,可减少温度、气流、声噪声等环境变化的影响,从而提高 显微镜的稳定性。 ETA 校正器和 JEOL COSMO™ 快速准确的像差校正 JEOL COSMO™ 仅使用从任何非晶区域获取的 2 个 Ronchigram 来测量和校正像差。 因此,该系统无需专用试样即可提供快速准确的像差校正。 提高稳定性 ...
Jeol/日本电子株式会社
空间分辨率: 0.1, 0.11, 0.25, 0.07, 0.16 nm
... “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。 “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器 (ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,采用日本电子独自开发的像差校正算法,可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外,新型STEM检测器不依赖于加速电压就可以获得高衬度的轻元素图像。因此,利用能增强轻元素衬度的新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。 为了响应近来已成为主流的远程操作的需求,NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式,主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色,设计精炼时尚。 JEOL ...
Jeol/日本电子株式会社
空间分辨率: 0.14, 0.19, 0.16, 0.23 nm
... 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子 显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子 显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 外观设计精炼 精炼的外型,全新的视觉感受。 为分析型电镜全新设计的 ...
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空间分辨率: 0.14 nm - 0.19 nm
... JEM-2100Plus电子 显微镜,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了最新的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子 显微镜JEM-2100Plus性能优越,操作方便,简明易懂,在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。 JEM-2100Plus电子 显微镜,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了最新的控制系统,大幅提高了可操作性。 ...
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倍率: 2,000 unit - 1,500,000 unit
空间分辨率: 0.1 nm - 0.31 nm
... JEM-2200FS 是最先进的分析型电子 显微镜,配备了 200kV 场发射枪(FEG)和柱内能量滤波器(Omega 滤波器),可实现零损耗图像,消除非弹性电子,从而获得高对比度的清晰图像。利用低损耗或核心损耗能量的电子形成的能量滤波图像可提供样品的化学状态或元素信息。此外,还提供用于元素分析和试样化学分析的光谱技术。 柱内能量滤波器(欧米茄滤波器) 柱内能量滤波器可让您获得能量滤波图像和电子能量损失光谱。经过优化设计的滤波器可提供无失真滤波图像。 控制系统 JEM-2200FS ...
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倍率: 10 unit - 1,500,000 unit
空间分辨率: 0.2, 0.14 nm
... JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学 显微镜图像的联动功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子 显微镜。 从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料,JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域,而且用途越来越广。其中,以生物领域为首的高分子材料研究、医疗品、病理切片、病毒、由荧光 显微镜做过标记的样品等的观察,首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况,再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构。近年来,对于这一系列的观察程序的简单化和获取高通量数据快速化的需求越来越迫切 ...
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倍率: 50 unit - 1,200,000 unit
空间分辨率: 0.2, 0.14 nm
宽度: 840 mm
... 加速电压为 120kV 的透射电子 显微镜(TEM)广泛应用于生物和聚合物等软材料领域。我们新开发的 JEM-120i 以 "小巧"、"易用 "和 "可扩展 "为理念。凭借全新的外观,该仪器已发展成为一款从操作到维护,任何人都能轻松使用的实用工具。 功能特点 结构紧凑 由于体积大幅缩小,JEM-120i 的灯丝更换位置和试样夹插入位置均低于现有仪器。新开发的筒式灯丝单元使任何人都能轻松安全地更换灯丝。 仪器正面有一个 LED 灯,其颜色会根据 TEM 的状态而变化。您可以在远处判断仪器的工作状态 ...
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... JSM-IT810 系列 FE-SEM 集多功能性和高空间分辨率于一身。 内置的无编码自动化成像和 EDS 分析功能可简化高效的工作流程。 新功能可确保为所有 SEM 用户提供高质量的数据和更好的用户体验。 这些功能包括 SEM 自动调整软件包、梯形校正功能(适用于 EBSD 测量)以及用于观察表面形貌的实时 3D 表面重建。 有了 JSM-IT810 系列,操作 FE 扫描电镜变得前所未有的简单。 功能特点 自动观察和分析功能 "Neo Action 只需设置分析条件和选择要测量的区域,即可自动进行 ...
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空间分辨率: 0.5 nm - 3 nm
... JSM-IT800具备高分辨观察和高速元素面分析,能够满足客户的各种需求。该装置配备浸没式肖特基场发射电子枪、新一代电子光学控制系统Neo Engine、一体化EDS、易用的操作导航SEM Center、及可置换的物镜模块。 特性 JSM-IT800 整合了我们用于从高分辨率成像到快速元素分析的“浸没式肖特基 Plus 场发射电子枪”、创新的电子光学控制系统“Neo Engine”以及无缝 GUI 系统“SEM Center”,该系统采用一体化 JEOL X 射线能量色散谱仪 (EDS) ...
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