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... NPFLEX-1000 落地式白光干涉仪（WLI）为精密加工质量保证/质量控制中评估大型零件的纳米到宏观特征提供了最精确、最灵活的解决方案。其主要特点包括大型开放式龙门、坚固耐用的桥式结构和旋转头设计，平台与物镜之间的距离为 300 毫米。这种独特的设计使 NPFLEX-1000 能够适应最广泛的样品尺寸和形状，并能进入最具挑战性的方向。 NPFLEX-1000 采用这种独特的设计，结合我们新一代光学轮廓仪技术的易用性优势，可以测量表面纹理和粗糙度，满足汽车、医疗和大规模增材制造等动态领域操作人员所需的生产能力和可重复性。 最灵活 大部件和高斜度接入 扩大测量表面范围，提高数据可用性。 自动化 测量和分析 减少样品处理、测量复杂性和结果生成时间。 卓越 易用性 让任何经验水平的操作员都能获得专家级的结果。 优化实验室和工厂车间的生产效率 NPFLEX-1000 ...
Bruker Nano Surfaces/布鲁克
... ContourX-200 光学轮廓仪完美融合了先进的特性分析、可定制的选项和易用性，是同类产品中速度最快、精度最高、重复性最好的非接触式三维表面测量仪。该系统可装载量具，占地面积小，采用更大视场角的 500 万像素数码相机和新型电动 XY 平台，具有无与伦比的 2D/3D 高分辨率测量能力。凭借无与伦比的 Z 轴分辨率和精度，ContourX-200 具有业界公认的布鲁克公司专有白光干涉测量 (WLI) 技术的所有优势，而不受传统共焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪的限制。 自动化 功能 启用例行程序，加快测量和分析速度。 电动 XY ...
Bruker Nano Surfaces/布鲁克
... 在过去的五十年里，布鲁克公司的 Dektak 系统在测针轮廓分析技术领域一直处于行业领先地位，在分辨率、稳定性、速度和多功能性方面取得了里程碑式的改进。现在，Dektak 系统已被公认为测针轮廓仪的黄金标准；在需要精确、可靠的测针轮廓仪时，Dektak 一直是毋庸置疑的解决方案。 Dektak Pro 在测针轮廓分析创新方面又向前迈进了一步，提供了更强的操作性、可靠性和测量精度，以提高和扩展使 Dektak 成为测针轮廓分析代名词的品质。 亮点 基于 55 年的表面测量创新和技术领先地位，Dektak ...
Bruker Nano Surfaces/布鲁克
... Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力，其高自动化水平可更大限度地提高测试通量。 鲁棒 自动化设置和操作 基于参考位置和众多测量位置进行编程，以更大限度地提高测试通量并减少出错。 双镜头 摄像机控制 更快地简化测量设置和定位到感兴趣点。 容 业界领先的自动化和分析软件 增强的软件功能使 ...
Bruker Nano Surfaces/布鲁克
空间分辨率: 530, 460 nm
长度: 600 mm
宽度: 550 mm
... S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。 解决方案 大面积 3D 光学测量系统 先进制造业 古学与古生物学 消费类电子产品 医疗设备 模塑 光学 钟表业 ...
Sensofar Metrology
倍率: 20, 5, 100, 50, 150 unit
空间分辨率: 630, 530, 460, 575 nm
长度: 610 mm
... 新型 S neox 在性能、功能、效 率和设计方面优于现有的 3D光 学轮廓仪，是Sensofar 的新一 代高端测量系统。 前所未有的速度 通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机，达到前所未有的速度。数据采集速度达 180 fps。标准测量采集速度比以前快 5 倍。S neox 成为市场上速度最快的表面测量系统。 易于使用 Sensofar 致力于为客户提供最令人难以置信的体验。随着第五代 S neox 系统的诞生，我们的目标是使其易于使用、直观且更快速。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量。模块化设计的软件，使系统适应用户多样的需求。 ...
Sensofar Metrology
倍率: 3, 10, 50, 100, 150 unit
空间分辨率: 550 nm
长度: 365 mm
... Slynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D光学轮廓仪。它设计简洁、用途多样。Slynx能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌测量应用。Sensofar的核心专利是将3种测量方式融于一体，确保了其完美的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。 应用领域 汽车业 消费电子产品 能源行业 液晶显示屏 材料学 微电子学 微制造业 微体古生物学 光学器件 机床加工业 半导体行业 手表制造业 三合一技术 共聚焦技术 共聚焦技术可用于测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率，可达0.09μm,利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的物镜时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70（粗糙表面达86）。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。 干涉技术 共聚焦技术可用于测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率，可达0.09μm,利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的物镜时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70（粗糙表面达86）。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。 多焦面叠加技术 共聚焦技术可用于测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率，可达0.09μm,利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的物镜时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70（粗糙表面达86）。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。 ...
Sensofar Metrology