厚度测量仪 MPLS-DM series医疗用途连续式在线
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产品规格型号
- 测试参数
- 厚度
- 应用
- 医疗用途
- 使用模式
- 连续式
- 配置
- 在线
- 其他特性
- 数字
- 重量
14.5 kg
(32 lb)- 宽度
18.4 cm
(7.2 in)- 高度
最少: 49.7 cm
(19.6 in)49.7 cm
(19.6 in)最多: 49.7 cm
(19.6 in)
产品介绍
产品概述
STIL 的 ChromaLine 传感器系列采用色差共焦技术，提供非接触的高速线测量与在线检测解决方案。MPLS-DM 版本在 1.34 至 12.85 mm 的线长范围内提供 180 个对齐测点，适用于连续工业环境，维护量低。
产品说明
MPLS-DM 可实现高分辨率的距离与厚度测量，测量频率在 200 Hz 至 2 kHz（标准模式），在减小测量范围时可达 6 kHz。传感器基于峰值提取距离（首峰/末峰及中间峰），并可通过多峰计算厚度。光学头仅使用被动元件以保证工业可靠性。
优势
应用
版本
ChromaLine 传感器提供五种标准 MPLS-DM 版本：NANOVIEW、MicroView、WireView、DeepView mk2 和 SuperView，各版本针对线长与测量范围进行了优化。
技术参数（控制器 / 通用）
控制器：MPLS-DM
技术：Chromatic Confocal（色差共焦）
光源：白光 LED
测点数：180
测量频率：200 Hz – 2000 Hz（减小测量范围时可达 6000 Hz）
距离测量：最高 / 第一 / 第二 / 第三 / 第四 / 最后 峰值
厚度测量：5 峰中任选 2 峰
数字输出：千兆以太网
同步：触发输入/输出
其他 I/O：编码器输入 (1)
光纤束长度：5 m
工作温度：5 °C – 50 °C
存储温度：-30 °C – 70 °C
相对湿度：5% – 80% RH 无凝结
防护等级：IP20
符合性：EN 61010-1；EN 61326-1
电源：100–240 Vac
最大/典型功耗：120 W / 70 W
尺寸（mm）：448.9 x 184 x 497
重量：14.5 kg
技术参数（传感器版本 - 比较值）
型号 / MPLS-DM (NANOVIEW / WIREVIEW / MICROVIEW / DEEPVIEW mk2 / SUPERVIEW) — 订单代码：OPSTM705002 (NANOVIEW)，OPSTM710002 (WIREVIEW)，OPSTM706002 (MICROVIEW)，OPST0707002 (DEEPVIEW mk2)，OPSTM711001 (SUPERVIEW)。
线长 (mm)：1.34 / 1.51 / 1.8 / 4.2 / 12.85
测量范围 @2 kHz (mm)：0.12 / 0.9 / 0.5 / 2.6 / 2
工作距离 (mm)：7.4 / 7.8 / 10.1 / 19.5 / 11.3
数值孔径：0.75 / 0.75 / 0.5 / 0.37 / 0.33
最大样品倾斜 (°)：±43 / ±46 / ±30 / ±20 / ±17
点距 (µm)：7.5 / 8.5 / 10.1 / 23.5 / 71.8
最大线性度误差 (µm)：±0.04 / ±0.1 / ±0.08 / ±0.12 / ±0.12
静态噪声 (nm)：25 / 150 / 100 / 300 / 300
轴向分辨率 (µm)：0.15 / 0.9 / 0.6 / 1.8 / 1.8
光斑尺寸 (µm)：2.9 / 3.2 / 3.8 / 8.8 / 27.2
均匀性 (nm)：30 / 200 / 125 / 400 / 400
最小可测厚度 (µm)：18 / 110 / 50 / 250 / 300
长度 / 直径 / 重量 (mm / mm / g)：NANOVIEW 436.1 / 50 / 2350 ; WIREVIEW 482.5 / 70 / 2850 ; MICROVIEW 427.3 / 50 / 2250 ; DEEPVIEW mk2 428.3 / 60 / 2800 ; SUPERVIEW 397.8 / 60 / 2550
测量范围 @4 kHz (mm)：0.055* / 0.45* / 0.235* / 1.15* / 0.9*
测量范围 @6 kHz (mm)：0.030* / 0.24* / 0.12* / 0.65* / 0.5*
* 预估值
STIL 的 ChromaLine 传感器系列采用色差共焦技术，提供非接触的高速线测量与在线检测解决方案。MPLS-DM 版本在 1.34 至 12.85 mm 的线长范围内提供 180 个对齐测点，适用于连续工业环境，维护量低。
产品说明
MPLS-DM 可实现高分辨率的距离与厚度测量，测量频率在 200 Hz 至 2 kHz（标准模式），在减小测量范围时可达 6 kHz。传感器基于峰值提取距离（首峰/末峰及中间峰），并可通过多峰计算厚度。光学头仅使用被动元件以保证工业可靠性。
优势
- 适用于反射材料（金属、玻璃、塑料、涂层、液体）的多用途非接触测量
- 工业级光学头由被动元件构成，使用寿命长
- 高吞吐量：2 kHz 时最多 360,000 点/秒；在 6 kHz 的专用应用中可超 1,000,000 点/秒
- 支持距离和多峰厚度测量模式
- 高轴向分辨率与低噪声，适合精细表面与厚度控制
- 提供 SDK 和协议命令，便于系统集成
- 支持与编码器同步的动态采集
- Gigabit Ethernet 通信，便于快速数据传输
应用
- 汽车玻璃检测
- 玻璃容器与包装行业
- 电动汽车行业（电池检测）
- 卷对卷与薄膜测量（透明与不透明薄膜、柔性电子）
- 电子行业（PCB）检测
- 半导体行业（硅片）
- 消费电子零件
- 医疗器件检测
- 微机械与精密工程
- 航空航天表面与装配检测
- 钟表制造与微组装
- 机器人集成用于自动化检测
版本
ChromaLine 传感器提供五种标准 MPLS-DM 版本：NANOVIEW、MicroView、WireView、DeepView mk2 和 SuperView，各版本针对线长与测量范围进行了优化。
技术参数（控制器 / 通用）
控制器：MPLS-DM
技术：Chromatic Confocal（色差共焦）
光源：白光 LED
测点数：180
测量频率：200 Hz – 2000 Hz（减小测量范围时可达 6000 Hz）
距离测量：最高 / 第一 / 第二 / 第三 / 第四 / 最后 峰值
厚度测量：5 峰中任选 2 峰
数字输出：千兆以太网
同步：触发输入/输出
其他 I/O：编码器输入 (1)
光纤束长度：5 m
工作温度：5 °C – 50 °C
存储温度：-30 °C – 70 °C
相对湿度：5% – 80% RH 无凝结
防护等级：IP20
符合性：EN 61010-1；EN 61326-1
电源：100–240 Vac
最大/典型功耗：120 W / 70 W
尺寸（mm）：448.9 x 184 x 497
重量：14.5 kg
技术参数（传感器版本 - 比较值）
型号 / MPLS-DM (NANOVIEW / WIREVIEW / MICROVIEW / DEEPVIEW mk2 / SUPERVIEW) — 订单代码：OPSTM705002 (NANOVIEW)，OPSTM710002 (WIREVIEW)，OPSTM706002 (MICROVIEW)，OPST0707002 (DEEPVIEW mk2)，OPSTM711001 (SUPERVIEW)。
线长 (mm)：1.34 / 1.51 / 1.8 / 4.2 / 12.85
测量范围 @2 kHz (mm)：0.12 / 0.9 / 0.5 / 2.6 / 2
工作距离 (mm)：7.4 / 7.8 / 10.1 / 19.5 / 11.3
数值孔径：0.75 / 0.75 / 0.5 / 0.37 / 0.33
最大样品倾斜 (°)：±43 / ±46 / ±30 / ±20 / ±17
点距 (µm)：7.5 / 8.5 / 10.1 / 23.5 / 71.8
最大线性度误差 (µm)：±0.04 / ±0.1 / ±0.08 / ±0.12 / ±0.12
静态噪声 (nm)：25 / 150 / 100 / 300 / 300
轴向分辨率 (µm)：0.15 / 0.9 / 0.6 / 1.8 / 1.8
光斑尺寸 (µm)：2.9 / 3.2 / 3.8 / 8.8 / 27.2
均匀性 (nm)：30 / 200 / 125 / 400 / 400
最小可测厚度 (µm)：18 / 110 / 50 / 250 / 300
长度 / 直径 / 重量 (mm / mm / g)：NANOVIEW 436.1 / 50 / 2350 ; WIREVIEW 482.5 / 70 / 2850 ; MICROVIEW 427.3 / 50 / 2250 ; DEEPVIEW mk2 428.3 / 60 / 2800 ; SUPERVIEW 397.8 / 60 / 2550
测量范围 @4 kHz (mm)：0.055* / 0.45* / 0.235* / 1.15* / 0.9*
测量范围 @6 kHz (mm)：0.030* / 0.24* / 0.12* / 0.65* / 0.5*
* 预估值
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