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... TESCAN MIRA的第四代扫描电子显微镜（SEM）带有FEG肖特基电子发射源，在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中结合了SEM成像和实时元素成分分析。这种结合大大简化了样品形态和元素数据的获取，使MIRA SEM成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料检测的高效分析解决方案。 分析平台具有完全集成的TESCAN Essence™ EDS，在一个Essence™软件窗口中有效结合了SEM成像和元素成分分析。 由于TESCAN独特的无孔光学设计由飞行中的光束追踪™提供支持，可立即获得最佳的成像和分析条件 ...
... TESCAN专有的防止伪影方法允许对软组织、多孔材料或不同硬度的区域进行三维FIB-SEM断层扫描，而无需在图像后期处理中去除人工条纹。AMBER X卓越的FIB视场可覆盖到1毫米，用于横断面和大体积分析。 AMBER X低温是服务于生命科学和材料科学的核心设施和成像及显微镜中心的理想选择，它具有处理各种材料和标本的多功能性，在常温或低温条件下均可使用。 主要优点 通过使用iFIB+等离子体FIB柱更快地进行材料去除和样品减薄，消除您的低温ET样品制备工作流程中的最大瓶颈。 利用高性能的等离子体FIB ...
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