Hitachi台式显微镜

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数字显微镜
数字显微镜
SU8700

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit

随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM,在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上,增加了包括自动获取数据等高通量的功能。 超高分辨观察和超强分析能力 日立的高亮度肖特基场发射电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下,仅用0.1 kV的低加速电压仍可进行高分辨观察,适应更多应用场景。同时,可搭配多种新型探测器和其他丰富的选配项,满足更多的观测需求。 ...

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Hitachi High-Technologies
SEM显微镜
SEM显微镜
SU8600

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit

随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术,同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。 高衬度的低加速电压背散射图像 3D NAND截面观察; 在低加速电压条件下,背散射电子信号能够明显的显示出氧化硅层和氮化硅层的衬度差别。 快速BSE图像:新型闪烁体背散射电子探测器(OCD)* 由于使用了新型的OCD探测器 ...

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Hitachi High-Technologies
SEM显微镜
SEM显微镜
SU7000

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit

SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像,而且还可以同时接收多种信号。此外,它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多优异性能。 SU7000是一台实现了获取大量信息的新型扫描电镜,可以满足客户的多种观察需求。 接下来请欣赏SU7000带来的多彩世界。 核心理念 1.采用优异的成像技术 SU7000可以迅速获取从大视野全貌图到表面微细结构等多种检测信号。全新设计的电子光学系统和检测系统,使得装置可以同时接收二次电子和背散射电子等信号,用户可以在短时间内获得更全面的样品信息。 2.采用多通道成像技术 随着用户对成像需求的不断增长,SU7000特新增了几种探测器,还引进了相应的成像功能。SU7000最多可同时显示和保存6通道信号。实现了获得样品信息的最大化。 3.支持不同形状样品、多种观察方法 大型样品观察 低真空观察 超低温观察 实时观察 等所需的样品仓和真空系统都十分完备,观察方法也是一应俱全。 4.支持微纳解析 采用肖特基发射电子枪,最大束流可达到200 ...

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Hitachi High-Technologies
电子扫描显微镜
电子扫描显微镜
SU3800

倍率: 5 unit - 800,000 unit

日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性,结合众多的自动化功能,可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察。 ①SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察 ■样品台可搭载超大/超重样品 通过更换样品提示,可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 选配样品交换仓,可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品,大大提高了工作效率 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* 红外CCD探测器,提高了样品台移动的安全性 ■支持全视野移动。SEM ...

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Hitachi High-Technologies
光学显微镜
光学显微镜
TM4000Plus II

倍率: 10 unit - 250,000 unit
重量: 54 kg
宽度: 330 mm

我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念,开发出TM4000系列。在此基础上,我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。 操作简单且快捷 观察图像只需 3 分钟。 可快速观察图像,并导出测试报告。. Report Creator可让您轻松制作报告 只需选择图像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的报告 即便是绝缘物样品,也无需预处理,就可直接进行观察。 “荷电减轻模式”可抑制荷电现象 对于容易产生荷电的样品,可使用“荷电减轻模式”,在抑制荷电的状态下进行观察。 只需用鼠标在软件上点击即可切换到“荷电减轻模式”。 可在低真空的条件下进行二次电子像(表面形状)观察。 无需预处理,也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面 不仅是观察传统的导电性样品,还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。 高感度低真空二次电子检测器 采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光,可以观察带有二次电子信息的图像。此外,通过控制该检测器,来检测电子照射所产生的光,可以获得CL信息(UVD-CL:带有CL信息的图像)。

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Hitachi High-Technologies
光学显微镜
光学显微镜
HT78 series

倍率: 600,000, 800,000, 1,000,000 unit
空间分辨率: 0.2, 0.14 nm

"RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列,包含配备高衬度透镜,实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备高分辨率透镜的HT7830。 全新操作可应对日常工作。 我们将竭诚为您提供合适的TEM解析解决方案。 特点 日立的双隙物镜设计,支持低倍率下的大视野高反差观察与高分辨率观察 凭借在明亮环境中的数字化操作环境和各种自动功能,从初学者到熟练者均可操作 通过全新设计的"Image Navigation"功能,可轻松搜寻视野和拍摄图像 配备全自动图像拼接功能 ...

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Hitachi High-Technologies
聚焦离子束显微镜
聚焦离子束显微镜
NX5000

空间分辨率: 4, 60, 0.7, 50, 1.5 nm

“Ethos”采用日立高新的核心技术--高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜,不但可以在低加速电压下实现高分辨观察,还可以在FIB加工时实现实时观察。 SEM镜筒内标配3个探测器,可同时观察到二次电子信号的形貌像以及背散射电子信号的成分衬度像;可非常方便的帮助FIB找寻到纳米尺度的目标物,对其观察以及加工分析。 另外,全新设计的超大样品仓设置了多个附件接口,可安装EDS*1和EBSD*2等各种分析仪器。而且NX5000标配超大防振样品台,可全面加工并观察最大直径为150mm的样品。 因此,它不仅可以用于先进半导体器件的检测,而且还可以用于从生物到钢铁磁性材料等各种样品的综合分析。 核心理念 1. ...

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