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... Dimension XR 扫描 探针 显微镜 (SPM) 系统融合了数十年的研究和技术创新成果。该系统具有常规原子缺陷分辨率，以及一系列独特的技术，包括 PeakForce Tapping®、DataCube 模式、SECM 和 AFM-nDMA，可提供最高的性能和能力。Dimension XR 系列 SPM 将这些技术集成到交钥匙解决方案中，用于纳米机械、纳米电气和电化学应用。对空气、流体、电气或化学反应环境中的材料和活性纳米级系统进行定量从未如此简单。 高光谱 纳米电气表征 包括最完整的电原子力 显微镜技术阵列 ...