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空间分辨率: 0.1, 0.11, 0.25, 0.07, 0.16 nm
... “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器 （ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用日本电子独自开发的像差校正算法，可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外，新型STEM检测器不依赖于加速电压就可以获得高衬度的轻元素图像。因此，利用能增强轻元素衬度的新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 为了响应近来已成为主流的远程操作的需求，NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式，主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色，设计精炼时尚。 JEOL ...
Jeol
倍率: 10 unit - 1,500,000 unit
空间分辨率: 0.2, 0.14 nm
... JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学 显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子 显微镜。 从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料，JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域，而且用途越来越广。其中，以生物领域为首的高分子材料研究、医疗品、病理切片、病毒、由荧光 显微镜做过标记的样品等的观察，首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况，再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构。近年来，对于这一系列的观察程序的简单化和获取高通量数据快速化的需求越来越迫切 ...
Jeol
倍率: 50 unit - 1,200,000 unit
空间分辨率: 0.2, 0.14 nm
宽度: 840 mm
... 加速电压为 120kV 的透射电子 显微镜（TEM）广泛应用于生物和聚合物等软材料领域。我们新开发的 JEM-120i 以 "小巧"、"易用 "和 "可扩展 "为理念。凭借全新的外观，该仪器已发展成为一款从操作到维护，任何人都能轻松使用的实用工具。 功能特点 结构紧凑 由于体积大幅缩小，JEM-120i 的灯丝更换位置和试样夹插入位置均低于现有仪器。新开发的筒式灯丝单元使任何人都能轻松安全地更换灯丝。 仪器正面有一个 LED 灯，其颜色会根据 TEM 的状态而变化。您可以在远处判断仪器的工作状态 ...
Jeol
... JSM-IT810 系列 FE-SEM 集多功能性和高空间分辨率于一身。 内置的无编码自动化成像和 EDS 分析功能可简化高效的工作流程。 新功能可确保为所有 SEM 用户提供高质量的数据和更好的用户体验。 这些功能包括 SEM 自动调整软件包、梯形校正功能（适用于 EBSD 测量）以及用于观察表面形貌的实时 3D 表面重建。 有了 JSM-IT810 系列，操作 FE 扫描电镜变得前所未有的简单。 功能特点 自动观察和分析功能 "Neo Action 只需设置分析条件和选择要测量的区域，即可自动进行 ...
Jeol
空间分辨率: 0.5 nm - 3 nm
... JSM-IT800具备高分辨观察和高速元素面分析，能够满足客户的各种需求。该装置配备浸没式肖特基场发射电子枪、新一代电子光学控制系统Neo Engine、一体化EDS、易用的操作导航SEM Center、及可置换的物镜模块。 特性 JSM-IT800 整合了我们用于从高分辨率成像到快速元素分析的“浸没式肖特基 Plus 场发射电子枪”、创新的电子光学控制系统“Neo Engine”以及无缝 GUI 系统“SEM Center”，该系统采用一体化 JEOL X 射线能量色散谱仪 (EDS) ...
Jeol
... -7000是以"谁都可以操作的SEM/EDS"为理念的 台式扫描电子 显微镜， 标配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。 新设置了中文操作界面！(选配件) ◇ 本设备配备以下几个功能： 1. 只要放大光学像就能观察SEM像的Zeromag功能 2. 即使不切换到EDS模式也能知道图片视野中的元素的Live analysis功能 3. 可对SEM像进行3维观察的Live3D功能 如果在光学 显微镜旁边放置一台JCM-7000，可以更快速、更详细地进行杂质分析和品质管理 ...
Jeol
倍率: 150, 10,000, 100, 500, 5,000 unit
空间分辨率: 3, 15 nm
... 扫描电子 显微镜 (SEM) 不仅是开展科研工作所必不可少的工具，对于需要品控的制造工厂也是不可或缺的。 在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“简单 SEM”功能，用户可将 SEM 观察所需的“手动重复操作交给它”，从而更高效、更轻松地完成 SEM 观察。 样品交换导航 从样品交换引导至自动观察 安全简单！ 1. 按照导航指南设置样品 *1 样品台导航系统（SNS）是选配件 *2 ...
Jeol
倍率: 20 unit - 1,000,000 unit
空间分辨率: 4 nm
... ，能对图像和分析数据进行三维观察。 样品台联动功能 利用样品提取系统（Sample Pick-up System，选配项）和样品台联动功能，能简单地提取TEM样品。 图像叠加（picture overlay ）系统 通过和附带光学 显微镜的样品提取系统组合，将光镜图像叠加在FIB图像上，能容易地定出FIB的加工位置。 ...
Jeol