X射线显微镜 Xradia 510 Versa

实验室用于材料研究投影式

用途极为广泛的蔡司 Xradia Versa 3D X 射线显微镜 (XRM) 可为各种材料和工作环境提供卓越的 3D 图像质量和数据。Xradia Versa XRM 采用基于同步加速器口径光学元件的双级放大技术和革命性的 RaaD™ （Resolution at a Distance）技术，即使在较大的工作距离内也能获得高分辨率，与传统的微型计算机断层扫描技术相比有了极大的改进。非破坏性成像可保留并延长珍贵样品的使用时间，实现 4D 和原位研究。 灵活易用 受益于蔡司 Xradia Versa 提供的两级放大技术，独特地实现了 RaaD，使您能够有效地研究最广泛的样品尺寸。直观的 Scout-and-Scan 控制软件使您能够在繁忙的实验室中使用多种用户技能。 查看蔡司 Xradia Versa 3D X 射线显微镜的亮点：无损成像、更高分辨率和更高产能。 RaaD 的多功能优势 蔡司 Xradia Versa 提供的两级放大技术独特地实现了远距离分辨率（RaaD），使您能够有效地研究最广泛的样品尺寸，包括原位样品室中的样品。 与传统 microCT 一样，图像最初通过几何投影进行放大。投影图像投射到闪烁体上，将 X 射线转换为可见光图像，然后由显微镜光学系统进行光学放大，最后由 CCD 检测器进行采集。 由于减少了对几何放大率的依赖，蔡司 Xradia Versa 解决方案能够在大工作距离内保持低至 500 纳米的亚微米空间分辨率。