ICP-MS光谱仪 Element™

磁区式多元素高解析度

清理光谱。让您的分析更轻松。高分辨率 ICP-MS 可进行最灵活、最可靠的分析，获得最佳分析结果。无需复杂的样品制备，即可以最高的灵敏度进行准确可靠的痕量多元素定量分析。Thermo Scientific™ Element™ 2 和 Element XR™ 高分辨率 ICP-MS 系统的分析浓度范围从毫克/升到亚皮克/升，特别适用于半导体、地质和材料科学实验室。 Element 2 和 Element XR 高分辨率 ICP-MS 消除干扰的能力在同类产品中处于领先地位，可提供最高级别的可信度。在痕量浓度下进行超灵敏、可靠的多元素分析，无需复杂的样品制备和方法开发。 在质谱分析中，当干扰离子的质量电荷比（m/z）与被分析离子重叠时，就会产生光谱干扰。这些干扰是 ICP-MS 的主要局限。幸运的是，有一种更好的方法。扇形场质谱仪的高分辨率潜力可以利用质量-电荷的微小差异，从物理上区分和分离分析物与干扰。因此，无论样品基质如何，高分辨率 (HR) ICP-MS 都能对几乎整个元素周期表中的元素进行浓度量化和精确的同位素比值测定。 高分辨率 ICP-MS 简单易用，可实现最先进的性能，同时又不影响简单可靠的方法开发。