ICP-MS光谱仪 Element™ series

用于研究用于金属分析磁区式

产品概述
使用 Thermo Scientific™ Element™ Series 高分辨率 ICP‑MS 清理谱图并简化痕量多元素分析。Element 2 与 Element XR 为扇形场 (sector‑field) ICP‑MS，可提供从 mg/L 到亚 pg/L 的定量分析，适用于半导体、地质和材料科学实验室。

Element 2 与 Element XR 通过高质量分辨率实现行业领先的谱干扰消除，能够在无需复杂样品前处理或反应性气体的情况下，提供精确的同位素比测量和可靠的定量结果，覆盖几乎整个元素周期表。

高质量分辨率（扇形场）通过利用质量‑电荷比 (m/z) 的微小差异，将目标离子与重叠的干扰离子物理分离，从而在不同基质和痕量浓度下实现定量与同位素分析。

Element 系列具备简便的操作与方法开发流程，兼具先进性能与可靠性，适合作为顶级研究/计量机构及高级常规分析实验室的首选平台。

特点与优势

• 高质量分辨率：将同位素信号与谱干扰分离，获得干净的元素谱，同时保持分析灵活性。
• 方法简便：可视化确认测量准确性。
• 物理去除干扰，无需反应性气体。
• 高灵敏度：可实现至 pg·L‑1 的准确多元素分析；Element XR 将线性动态范围再扩展约 3 个数量级。
• 适用于瞬态多元素信号（激光烧蚀、HPLC、GC、CE、FFF）。
• 高精度同位素比能力。
• 可靠且坚固，可支持 24/7 的生产控制和高级研究。

可用型号（目录表）
目录号 | 型号
IQLAAMGADVFABWMAFC | Element 2
IQLAAMGADVFABWMAFB | Element XR

技术规格

• 系列：Element™ Series HR-ICP-MS
• 型号：Element 2
• 类型：扇形场 ICP 质谱仪
• 单位尺寸：每台
• 浓度范围：mg/L 至 亚 pg/L
• 高质量分辨率能力（扇形场；典型 R ≈ 10,000+）
• 扩展的线性动态范围（Element XR 将范围扩展约 3 个数量级）
• 应用：半导体、地质、材料科学实验室；瞬态信号（激光烧蚀、HPLC、GC、CE、FFF）
• 主要优势：物理去干扰（无需反应性气体）、超高灵敏度多元素分析、高精度同位素比
• 目录号（页面主变体）：IQLAAMGADVFABWMAFC