X光头影测量平板探测器 Xineos-1515 Gige
全景X光照相用CBCT成像

X光头影测量平板探测器
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产品规格型号

应用
CBCT成像, 全景X光照相用, 用于X光头影测量

产品介绍

Xineos-1515 CMOS平面探测器在成像性能方面树立了新的基准,特别是在低剂量下。该探测器采用我们的第六代CMOS技术,其先进的像素设计提供了一个可切换的饱和剂量,以提供最高的动态范围或最高的灵敏度,这取决于不同临床程序的临床要求和病人剂量特征。 Xineos-1515有一个15x15厘米的有效区域,可以轻松地对整个成人下颌骨这样大的物体进行成像,并且有一个可编程的感兴趣区域(ROI),其大小、位置和帧速率都很灵活(例如,15x1厘米@300帧),单个探测器可以为不同的手术提供优化的图像质量--例如支持牙科CBCT/全景二合一系统的需求。 像图像一样清晰的优势 Xineos-1515支持全分辨率下的实时30帧操作,结合行业领先的低剂量性能,是实时荧光检查的理想选择。内置的缺陷校正和增益/偏移(平场)校正确保了最佳的诊断图像质量--允许在早期阶段诊断医疗异常,并显著提高早期干预、病人康复和减少治疗费用的概率。 Xineos-1515在建造时也考虑到了病人和医生的便利。它窄而圆的肩部边缘(7.3毫米--业内最小的)允许最紧凑的外壳设计,使病人更容易接近,低功率CMOS设计不需要外部冷却,进一步使小型检测器单元在拥挤的应用环境中需要更少的空间。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。