质谱光谱仪 ZSX Primus400

X 射线荧光高解析度

理学独特的ZSX Primus 400顺序波长色散X射线荧光（WD-XRF）光谱仪是专门设计来处理非常大和/或重的样品的。这个系统可以接受直径400毫米、厚度50毫米和质量30公斤的样品，是分析溅射靶材、磁盘或多层薄膜计量或大型样品元素分析的理想选择。 带有定制样品适配器系统的XRF 具有适应您的特定样品类型和分析需要的多功能性，这台WDXRF光谱仪可以使用可选的（定制的）适配器插入物来适应各种样品的尺寸和形状。凭借可变的测量点（直径30毫米到0.5毫米，有5个步骤的自动选择）和具有多点测量的绘图能力，以检查样品的均匀性，这种独特的灵活仪器可以极大地简化您的质量控制过程。 带有可用摄像头和特殊照明的XRF 可选的实时摄像头允许在软件内查看分析区域。操作员可以完全确定正在测量的内容。 传统的WDXRF分析能力 这种 "大样品 "变体保留了传统仪器的所有分析能力。用高分辨率、高精度的WDXRF光谱分析铍（Be）到铀（U），从固体到液体，从粉末到薄膜。分析广泛的成分范围（从ppm到几十个百分点）和厚度（亚埃到毫米）。