紫外-可见光分光光度计 CTech™ SoloVPE®

紫外线用于研究质量控制

CTech™ SoloVPE® 系统采用独特的专利可变路径长度技术 (VPT)，释放了斜率光谱仪的威力。这种简单而强大的可变路径长度解决方案可提供快速而准确的结果，从而避免了昂贵的稀释。 与传统 UV-Vis 方法的单一数值依赖性不同，数据密集型斜率法通过收集多个路径长度的多个吸光度数据点来描述样品的特性，从而绘制出一条切面曲线（吸光度与路径长度关系图）。 然后对截面曲线进行实时分析，以验证其线性度是否符合比尔-朗伯定律。根据样品消光系数，截面曲线的线性区域与样品浓度成正比。 结果如何？ SoloVPE 系统可在 60 秒内报告浓度结果。SoloVPE 解决方案能够在波长 190 纳米到 1100 纳米之间、路径长度 5 微米到 15 毫米之间进行光谱和定点测量，适用于各种类型和浓度的样品。SoloVPE 系统方法已被证明是准确、精确和稳健的。因此，根据 ICH Q2(R1)的要求，它可以轻松、成功地通过验证。 可变路径长度技术使 R2 值≥0.999，证明了系统与系统之间的稳健一致性。 斜率光谱方法：第一台也是唯一一台斜率光谱仪，能够进行基于斜率光谱的测量。SoloVPE 系统利用基于多个数据点而非单一吸光度值的斜率结果。