监控摄像机 OM-1 Mark II_IR

检出检查用于生命科学

概要
基于紧凑轻便的 OM SYSTEM 可换镜头无反相机机身，OM-1 Mark II_IR 是为测试、检验、科研及其他专业应用而设计的近红外成像相机系统。该系统将 OM SYSTEM 相机平台与磁性滤镜套件和软件支持相结合，可实现红外与可见光两种工作流程。

主要特性

• 基于 OM SYSTEM 无反平台的近红外成像相机系统。
• 高分辨率拍摄模式：三脚架 High Res Shot（RAW/JPEG 最高 80 兆像素）和手持 High Res Shot（RAW/JPEG 最高 50 兆像素）。
• 机内图像处理与可配置自定义模式，便于快速调用常用设置。
• 磁性滤镜安装系统，可快速在红外与可见光成像间切换：包含 MRC IR 滤镜（透过红外，阻挡可见光）和 MRC UV/IR cut 滤镜（用于可见光）。
• 支持三脚架与手持拍摄流程；支持通过兼容 USB/PD 设备持续供电。
• 兼容网络摄像（USB 音视频类），适用于流媒体或捕获流程。

随附 / 可配置的磁性滤镜套件

• 磁性 MRC IR 滤镜（阻断可见波长；透过近红外）。
• 磁性 MRC UV/IR Cut 滤镜（阻断紫外与红外；透过可见光以进行标准成像）。
• 磁性镜头盖（套件示例为 67 mm）及用于快速安装的磁性转接环。

软件
OM Capture 用于远程控制相机和即时有线拍摄。OM Workspace 用于图像查看、RAW 处理以及可见光与红外图像的对比。两款应用均支持红外工作流程，并作为免费工具提供以便图像审核与处理。

应用领域

• 工业与制造检验：晶圆、丙烯酸、玻璃、镜面组件——揭示常规照明下不可见的细节。
• 食品行业：异物检测、配料分布评估、产品分类与质量控制。
• 法医与调查：通过近红外成像进行真伪验证和证据分析增强。
• 科研与文化遗产：近红外观测用于揭示铭文、底稿、被烟灰覆盖的表面、壁画及笔触分析。

下载与文档
提供全面的用户手册与文档（多语言）；提供固件、LUTs 及软件资源（OM Capture、OM Workspace），以支持红外成像的拍摄、处理和色彩/工作流管理。OM-1 Mark II 系列及相关套件组件的手册和技术文档已发布。

技术规格

• 商用名称：OM-1 Mark II_IR
• 系统类型：基于 OM SYSTEM 无反相机平台的红外成像系统
• High Res Shot（三脚架）：RAW 最高 80 MP，JPEG 最高 80 MP
• High Res Shot（手持）：RAW 最高 50 MP，JPEG 最高 50 MP
• 相机机身近似尺寸/重量：134.8 x 91.6 x 72.7 mm；约 599 g（含一块可充电电池）
• 示例镜头（套件）：Ø63.4 x 长度 70 mm；重量约 254 g（示例 12-45mm F4 PRO 套件镜头）
• 电池：BLX-1（1 块），典型约 500 张
• 电源：可通过兼容 USB Power Delivery 的设备实现持续供电
• Tripod High Res Shot：支持（见上方拍摄模式）
• 景深合成：支持
• 防护等级：防护等级 1（IPX1）
• 其他：兼容网络摄像（USB 音频类 / 视频类）
• 磁性滤镜套件（包含/可选）：MRC IR 滤镜、MRC UV/IR cut 滤镜、磁性镜头盖、磁性转接环
• 软件支持：OM Capture（有线/控制）、OM Workspace（RAW 处理、图像查看、可见光与红外对比）