检查摄像机 OM-1 Mark II_IR

数字CMOS50 Mpx

概述
基于OM SYSTEM紧凑轻量的可换镜头无反相机平台，OM-1 Mark II_IR为近红外成像而专门设计，适用于测试、检测、研究及其他专业应用。该系统将OM SYSTEM相机平台与磁性滤镜套件和软件支持相结合，可实现红外与可见光两种工作流程。

主要特性

• 基于OM SYSTEM无反平台的近红外成像相机系统。
• 支持多种高分辨率拍摄模式，包括三脚架高分辨率（Tripod High Res Shot，RAW/JPEG最高可达80百万像素）和手持高分辨率（Handheld High Res Shot，RAW/JPEG最高可达50百万像素）。
• 机内图像处理与可配置自定义模式，便于快速调用常用设置。
• 磁性滤镜安装系统，可快速在红外与可见光成像间切换：包含MRC IR滤镜（通过红外，阻挡可见光）和MRC UV/IR Cut滤镜（用于可见光成像）。
• 适用于三脚架与手持两种工作流程；支持通过兼容USB Power Delivery的设备连续供电。
• 兼容网络摄像头（USB音频/视频类），适用于流媒体或采集工作流程。

随附 / 可配置的磁性滤镜套件

• 磁性MRC IR滤镜（阻挡可见波长，透过近红外）。
• 磁性MRC UV/IR Cut滤镜（阻挡紫外与红外；透过可见光以实现标准成像）。
• 磁性镜头盖（套件示例为67 mm）及用于快速安装的磁性适配环。

软件
OM Capture 用于远程控制相机及即时有线（tethered）拍摄。OM Workspace 用于图像查看、RAW 处理以及可见光与红外图像的比对。两款应用均支持红外工作流程，并作为免费工具提供以便图像审查与处理。

应用

• 工业与制造检测：晶圆（wafer）、亚克力、玻璃、镜面构件——揭示标准照明下不可见的细节。
• 食品行业：异物检测、成分分布评估、产品分类与质量控制。
• 司法鉴定与调查：通过近红外成像进行真伪鉴定与增强型证据分析。
• 科研与文化遗产：近红外观察可揭示铭文、底稿、被烟尘覆盖的表面、壁画及笔触分析。

下载与文档
提供全面的用户手册与文档（多语言）；提供固件、LUT 与软件资源（OM Capture、OM Workspace），以支持红外成像的拍摄、处理与色彩/工作流管理。OM-1 Mark II 系列及相关套件组件的手册和技术文档已发布。

技术规格

• 商品名称：OM-1 Mark II_IR
• 系统类型：基于OM SYSTEM无反相机平台的红外成像系统
• 三脚架高分辨率（High Res Shot Tripod）：RAW最高80MP，JPEG最高80MP
• 手持高分辨率（Handheld）：RAW最高50MP，JPEG最高50MP
• 机身尺寸/重量（约）：134.8 x 91.6 x 72.7 mm；约599 g（含1块充电电池）
• 示例镜头（套件）：Ø63.4 x 长度70 mm；重量约254 g（示例：12-45mm F4 PRO 套件镜头）
• 电池：BLX-1（1块），典型约500张
• 电源：支持通过兼容USB Power Delivery的设备连续供电
• Tripod High Res Shot：支持（参见上述拍摄模式）
• 深度合成：支持
• 防护等级：防滴等级1（IPX1）
• 其他：兼容网络摄像头（USB音频类 / 视频类）
• 磁性滤镜套件（随附/可选）：MRC IR滤镜、MRC UV/IR Cut滤镜、磁性镜头盖、磁性适配环
• 软件支持：OM Capture（tether/控制）、OM Workspace（RAW处理、图像审阅、可见光与红外对比）