N-SIM E是一款流线型、价格合理的超分辨率系统,可提供传统光学显微镜两倍的分辨率。结合N-SIM E和共聚焦显微镜,您可以灵活地在共聚焦图像中选择一个位置,并轻松切换至超分辨率模式,从而获得更多细节。
分辨率为传统光学显微镜的2倍
借助尼康创新的结构化照明显微方法,并与尼康著名的高数值孔径物镜(NA值高达1.49)相结合,N-SIM E几乎可以使传统光学显微镜的空间分辨率提高一倍(达到约115nm *),从而帮助用户观察到微小的胞内结构及其相互作用。
具有1秒/帧的高时间分辨率的超分辨成像
N-SIM E为结构化照明技术提供快速的成像性能,约1秒/帧的时间分辨率,对活细胞成像有效。
拍摄更大的视野
N-SIM E可以获得具有66微米见方的大视野的超分辨率图像。这个更大的成像区域可以为受益于更大视野的应用/样本(例如神经元)提供非常高的吞吐量,从而减少获取数据所需的时间和精力。
采用3D-SIM模式的轴向超分辨率
3D-SIM模式生成三维结构化照明图案,使横向和轴向分辨率提高一倍。两种重建方法
(“slice”和“stack”)可用于优化结果,根据应用的要求(例如样品厚度、速度等)。Slice重建适用于在特定深度成像的活细胞,因为它支持轴向超分辨率成像,具有300nm分辨率的光学切片。基于Gustafsson理论的可选stack重建适用于采集3D数据,因为它能以比slice重建更高的对比度去成像更厚的样本。