表面检测分析仪 TriStar II Plus

台式

概述
TriStar II Plus（Micromeritics）是一款全自动BET比表面积分析仪，适用于快速、高通量的精确测试。其三个独立的分析端口可同时运行，提高实验室产能，同时保持研究与日常质量控制所需的数据处理与精度要求。

主要特性

• 三个分析端口可同时且独立运行；三项BET比表面积测量可在20分钟内完成。
• 独特的分析歧管设计，提供精确的气体管理。
• 标配连续Po（饱和压）专用端口；Po可手动输入、连续测量或在样品上采集。
• 等温护套保证样品管与Po管沿线的恒定温度分布。
• Dewar设计可提供长达40小时的连续温度控制。
• 吸附气体选项灵活：氮气、氩气、二氧化碳、轻质烃类；在使用合适真空泵时可用氧气。
• Micromeritics MicroActive软件用于交互式数据处理、仪器控制及多种建模（BET、t‑Plot、Langmuir、DFT、NLDFT）。

应用

• 增材制造：用于研究烧结动力学和产品特性之比表面积与孔隙率分析。
• 炭黑：比表面积与性能和磨损特性相关。
• 吸附剂：比表面积、总体孔容与孔径分布对质量控制与分离工艺开发至关重要。
• 催化剂：活性表面积与孔结构影响反应速率与选择性。
• 纳米管：比表面积与微孔结构用于估算储能能力。
• 活性炭：针对蒸气/溶剂回收与污染控制进行优化。
• 陶瓷：表面与孔隙对固化、粘结及最终性能有影响。
• 油漆与涂层：颜料/填料的比表面积影响光泽、质感与附着力。
• 电池与燃料电池：优化表面与孔隙以改善储能与能量产生。
• 地球科学：孔隙度与流体储存及可采性相关。
• 医药：表面与孔隙影响纯化、配方、崩解、溶出与生物利用度。

软件与高级分析
Micromeritics MicroActive软件提供交互式数据处理、仪器控制及建模工具。功能包括可选数据区间、等温线交互绘图、BET、t‑Plot、Langmuir与DFT计算、用于扩展孔径分析的NLDFT模型，并支持与汞压入法数据的叠加分析。

配件与样品制备

• 推荐使用样品制备系统以优化通量（示例：FlowPrep、VacPrep、Smart VacPrep、LN2转移系统）。
• 多独立站位的制备系统可避免制备环节成为分析通量的瓶颈。

手册与文档

• TriStar II Quick Start Guide
• TriStar II Plus Operator Manual
• MicroActive Software Quick Start Guide
• 软件与固件更新（例如 MicroActive 版本）

技术规格

• 压力测量 — 绝对：范围 0 至 950 mmHg；分辨率 约0.05 mmHg；精度 在满量程的0.1%以内；线性度 < ±0.1%。
• 压力测量 — 相对：P/P0 范围 0 至 1.0；分辨率 < 1×10⁻4。
• 分析：比表面积：氮气时从0.01 m²/g起；氪气时从0.001 m²/g起。总表面积：氮气时从0.1 m²起；氪气时从0.01 m²起。孔容从4 × 10⁻6 cm³/g起。Dewar持续时间最长约40小时。气体消耗每端口最高约300 cm³ STP。
• 吸附气体：氮气机型支持N2、Ar、CO2及其他非腐蚀性气体与轻质烃类蒸气；氧气仅在使用合适真空泵时可用。氪气机型支持相同气体并可在更低压力下进行Kr分析。
• 歧管温度：精度 ±0.25 °C；分辨率 约0.1 °C。
• 真空系统：氮气机型需达到约20 × 10⁻3 mmHg或更好（可使用油式或无油泵）；氪气机型需达到1 × 10⁻3 mmHg（要求无油泵）。
• 工作环境：工作温度 10 至 35 °C；存储 0 至 50 °C。湿度 20 至 80% 相对湿度，且不凝结。仅限室内使用；海拔最高2000 m；污染度2。
• 设备尺寸：高度74 cm；宽度40 cm；深度51 cm；重量37 kg。
• 电气：电源电压 100–240 V~；功率 150 VA 最大；频率 50/60 Hz；过电压类别 II。
• 软件：Micromeritics MicroActive，用于交互式数据处理和高级建模（NLDFT、叠加）。