X射线光谱仪 Empyrean XAS

纳米技术用于研究开发环境分析

概述
Empyrean XAS将X射线吸收光谱（XAS）集成到Empyrean多功能X射线平台中，使实验室内的XANES和EXAFS测量可与XRD、散射和成像技术在同一仪器上联合实现。单一平台支持多种结构学视角和一致的实验流程。

主要功能

• 通过衍射确定长程晶体结构
• 使用散射技术研究纳米尺度组织
• 获取结构成像数据
• 利用XAS（XANES和EXAFS）探测局部化学环境

XAS可揭示的信息

• 确定氧化态
• 确定配位几何
• 测量原子间距离
• 研究短程有序

测量方法与性能
Empyrean XAS在专用透射配置下进行测量，提供稳定可重复的能量扫描以支持定量解释。高能量分辨率支持详细的XANES分析（包括前缘特征），宽k范围适合定量EXAFS分析。

元素与能量覆盖范围

• 可访问能量范围：4–20+ keV
• 支持中序数元素的K吸收边（例如 Ti、Fe、Ni、Mo）
• 支持较重元素的L吸收边（例如 Ba、Ce）
• 多边能力：可在单次实验中顺序测量多个吸收边

工作流程与软件

• 自动数据采集
• 扫描对准与归一化
• 探测器校正与背景扣除
• 前沿与后缘拟合
• 光谱处理与数据整理

应用

• 储能 — 研究电池充放电过程中氧化态变化和局部结构演变
• 催化 — 调查非均相催化剂的活性位、氧化态和反应路径
• 先进材料 — 表征短程有序、缺陷与电子结构
• 环境与地质科学 — 分析复杂材料中的微量元素和物种转化过程

手册

• Empyrean Series 3 Pre-Installation manual (English) — Version 3 — 14 February 2023
• Empyrean Series 3 User Guide (English) — Version 3 — 03 May 2022

技术规格

• 技术：XANES、EXAFS
• 能量范围：4-20+ keV
• 测量模式：透射
• 能量分辨率：8 keV处可达1.3 eV
• 分辨能力：高达 E/ΔE ≈ 6150
• 可测吸收边：3d过渡金属的K边和重元素的L边
• 工作环境：常温空气操作
• 原位/在操作条件下研究：支持
• 测量时间：数分钟到数小时