压力测试仪 C640

厚度校准实验室

C640是一款高精度接触式厚度测量仪，适用于测量薄膜、片材、纸张、瓦楞纸板、纺织品、无纺布及硬质绝缘材料的厚度。可选自动取样器以实现多点连续测量。嵌入式Labthink软件提供智能数据处理、用户管理和安全存储功能。

主要特性

• 专业性：采用高精度位移传感器与优化结构及先进控制技术，提升稳定性、重复性和精度。压脚可自动升降以减少人为误差。接触时间和试验速度可配置；接触面积和试验压力可定制。多点校准改善量程线性，标准量块可用于快速校准。
• 高效性：自动化设计将人工操作降到最低。参数程序功能可保存试验参数以便复用。结果包含最大值、最小值、平均值和标准差；比较功能便于结果评估。可选自动取样支持可配置的送料距离、送料速度和测量点，实现精确的连续点测量。
• 智能化：内置Labthink软件，界面友好，支持严格的用户管理和安全的数据处理。可选DataShieldTM实现加密存储与集中管理。试验数据支持曲线与列表显示，并可检索、导出和打印。

试验原理
将经预处理的试样置于平整的试验面上。与试验面平行的压脚在设定压力下下降，位移传感器测量试样上下表面之间的距离，即为厚度。

试验标准

• ISO 4593
• ISO 534
• ASTM D6988
• ASTM F2251
• GB/T 6672
• GB/T 451.3
• TAPPI T411
• BS 2782-6
• DIN 53370
• ISO 3034
• ISO 12625-3
• ISO 5084
• ASTM D374
• ASTM D1777
• ASTM D3652
• GB/T 6547
• GB/T 24218.2
• FEFCO No 3
• EN 1942
• JIS K6250
• JIS K6783
• JIS Z1702

应用

• 基本应用:
  • 薄膜与片材：各类塑料薄膜、片材和隔膜的厚度测量。
  • 纸张：各种纸张、纸板及复合纸板的厚度测量。
• 扩展应用:
  • 金属件与硅片：硅片、金属箔及金属零件的厚度测量。
  • 瓦楞纸板：瓦楞纸板厚度测量。
  • 纺织品：机织、针织及涂层织物的厚度测量。
  • 无纺布：如纸尿裤、卫生巾、医用口罩等无纺布的厚度测量。
  • 其它材料：硬质绝缘材料、胶带、土工合成材料、橡胶等。

技术参数 / 规格

• 型号：C640（可选型号：C640M、C640H）
• 测量方法：机械接触法
• 标准量程：0 ~ 2 mm（C640M / C640H）
• 分辨率：0.1 μm
• 重复性（量程内）：C640M：0.8 μm；C640H：0.4 μm
• 可选量程：0 ~ 6 mm（选项1）；0 ~ 12 mm（选项2）
• 送料空间（自动取样）：0 ~ 1000 mm（可调）
• 送料速度：1.5 ~ 80 mm/s（可调）
• 试验压力与接触面积（示例）：薄膜：17.5 ±1 kPa，50 mm²；纸张：100 ±1 kPa（标准）或50 ±1 kPa（可选），200 mm²。可按需定制压力/接触面积或弧形压脚。
• 可选功能：自动取样器；DataShieldTM（安全数据管理）
• 仪器外形尺寸（L×W×H）：370 × 350 × 410 mm
• 净重：26 kg
• 输出/结果：最大、最小、平均、标准差；曲线与数据列表；支持查询、导出与打印。