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光学光谱仪 SXES
X射线CCD台式

光学光谱仪 - SXES - Jeol/日本电子株式会社 - X射线 / CCD / 台式
光学光谱仪 - SXES - Jeol/日本电子株式会社 - X射线 / CCD / 台式
光学光谱仪 - SXES - Jeol/日本电子株式会社 - X射线 / CCD / 台式 - 图像 - 2
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产品规格型号

类型
光学, X射线
探测器类型
CCD
配置
台式
其他特性
高敏型, 超高解析度
宽度

168 mm
(6.6 in)

高度

683 mm
(26.9 in)

重量

25 kg
(55.1 lb)

产品介绍

软 X 射线发射光谱仪(SXES)是一种超高分辨率光谱仪,由新开发的衍射光栅和高灵敏度 X 射线 CCD 相机组成。 与 EDS 一样,它可以进行平行探测,并能进行 0.3 eV(费米边,Al-L 标准)的超高能量分辨率分析,超过了 WDS 的能量分辨率。 系统概要 新开发的光谱仪光学系统设计可同时测量不同能量的光谱,而无需移动衍射光栅或探测器(CCD)。利用高能量分辨率,可进行化学态分析绘图。 SXES、WDS 和 EDS 的比较 使用各种光谱分析方法测量氮化钛的光谱 对于氮化钛,N-Kα 和 Ti-Ll 的峰值是重叠的。即使使用 WDS,也需要使用数学方法进行波形解旋。如下图所示,SXES 具有很高的能量分辨率,可以观测到 TiLl。 锂离子电池 (LIB) 分析示例 下图示例显示了具有不同电荷状态的锂离子电池样品的大面积地图。SXES 可以绘制价带态(左)和基态(中)的锂-K 峰图。通过碳分布图(右图)还可以看到完全放电的锂离子电池上的功能。 光元素测量示例 使用 SXES 测量碳化合物 可以测量金刚石、石墨和聚合物之间的差异。可以通过 π 和 σ 键的附加峰观察到差异。由于映射从每个像素获取光谱,因此可以生成峰值偏移 1 eV 和肩峰的附加映射。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。