FIB显微镜 JIB-PS500i

SEMTEM透射电子

JIB-PS500i 提供三种解决方案来协助 TEM 标本制备。确保了从试样制备到 TEM 观察的高通量工作流程。 特点 TEM 链接 使用 JEOL 的双倾斜盒和 TEM 夹具*可促进 TEM 和 FIB 之间的连接。只需轻轻一按，就可将盒安装到专用的 TEM 样品架上。 所采用的 OmniProbe 400*（牛津仪器公司）可实现精确流畅的拾取操作和操作。OmniProbe 400* 的操作已集成到 JIB-PS500i 的软件中。 要精确高效地制备 TEM 试样，必须快速检查制备进度。JIB-PS500i 采用高倾斜平台和探测器方案，实现了从 FIB 铣削到扫描透射电子显微镜（STEM）成像的无缝过渡。薄片加工和 STEM 成像之间的快速转换可实现高效的试样制备。 自动制备 JIB-PS500i 使用 STEMPLING2* 自动 TEM 试样制备系统实现试样制备自动化。该自动系统使任何操作人员都能顺利制备 TEM 标本。 高分辨率和高同步扫描电子显微镜成像 不要再犹豫不决，不要再错过铣削终点。高质量的扫描电镜图像为您提供帮助。 信号检测系统 提供多种探测器，包括标准 SED、UED 和 iBED。选择最佳探测器，就能在各种实验条件下观察到各种试样的清晰图像。