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用于质谱分析法分析共享

将复杂的质谱数据可视化，加速信息共享！ 功能 Kendrick 质量缺陷 (KMD) 分析及其在合成聚合物中的应用 肯德瑞克质量缺陷（KMD）分析是爱德华-肯德瑞克（Edward Kendrick）于 1963 年提出的一种方法[1]，至今仍用于石油化工领域。在质谱分析中，高分辨率质谱仪获得的精确质量使用的单位制是 12C 的质量为 12.0000 u，而 Kendrick 质量（KM）使用的单位制是 CH2 = 14.00000。根据碳氢化合物的不饱和程度和杂原子的存在与否，可以对主要由碳氢化合物组成的极其复杂的混合物（如原油）的质谱峰进行分类。 日本国立产业技术综合研究所（AIST）和 JEOL 有限公司成功地将 Kendrick 质量缺陷法的原理应用于聚合物的高分辨率质谱分析 [2]。在这种情况下，KM 的定义是：作为重复单元的单体的确切质量为整数。绘制 Kendrick 质量缺陷（KMD）图可以直观地显示复杂质谱中聚合物的类型和数量，而无需指定单个质谱峰。最近，有人提出了馏分基 KMD 法、KM 余量法等相关技术，这些技术可用于分析宽质量范围的聚合物，以及通过 MS/MS 分析聚合物的结构。这些 KMD 技术不仅缩短了聚合物分析所需的时间，还促进了信息共享。