离心沉淀纳米粒度分析仪 CN-300

离心沉淀纳米粒度分析仪 - CN-300 - HORIBA Scientific
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产品规格型号

所用技术
离心沉淀

产品介绍

通过离心进行高分辨率粒度分布测量。 CN-300 的测量范围为 10 nm - 40 μm,可施加高达 30,000g 的离心力,并使用温度控制为各种样品产生准确的测量结果。 根据客户反馈开发并改进现有和新的 HORIBA 技术,其结果是提供安全可靠的操作,同时也易于使用的分析仪。 实现对未稀释和稀释样品粒径分布的精确测量 颗粒的粒度是按粒径大小分类后测量的,这是离心分离法的关键特点。因此,一次测量就能得到宽范围内的高精度结果。CN-300可提供两种测量方法:“密度梯度模式”和均一模式”。 可捕捉到少量杂质颗粒或团聚体 CN-300因其高分辨率可以捕获到少量的杂质颗粒。它能让你在全粒径分布范围内获得可靠的测量结果,包括含量少占比低的颗粒群。 仪器在长时间测量后性能依然稳定 样品室和转盘具有冷却功能,可防止样品在旋转过程中温度升高。通过保持溶剂的粘度恒定提高测量结果的可靠性。CN-300更安静,操作更简单安全。 坚固耐用易操作 • 仅需将样品注入样品池 • 比色皿式样品池易清洁、易更换,减少样品交叉污染的风险。 • 符合国际安全标准 (IEC6101-1/2-020) 测量案例 高分辨率测量粒径分布 下图为离心粒度分析仪测量含有四种相同浓度的二氧化硅标准颗粒的混合样品的结果,四种不同粒径颗粒所占面积几乎相同。因为颗粒按离心力分类,使用密度梯度模式测量可以获得准确的粒度分布。 样品:标准颗粒(取0.48 μm、0.73 μm、0.99 μm和1.57 μm标准样品各一滴后进行混合) 样品量:10 μL 溶剂:蔗糖溶液 测量条件:密度梯度模式 少量高浓度样品粒径分布的测量 离心粒度仪可以测量其他方法难以测量的高浓度样品,如用于喷墨打印机的未稀释黑色颜料,并得到高精度的测量结果,所需样品量仅为2 μL。

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