火焰式分光光度计 ZA4 series

紫外线塞曼效应可见光

日立采用偏振泽曼校正法和双检测器法，提供高精度背景校正和高灵敏度测量。 新增的快速顺序模式*（支持火焰法）使其能够进行更高通量的分析，从而在研究和质量管理等各种领域实现快速、精确和高重现性的测量。 特点 偏振泽曼校正法 仅使用空心阴极灯进行背景校正 偏振泽曼校正法使用永久磁铁，可提供稳定的基线，抑制共存材料对相邻波长的吸收影响，便于进行高度可靠的分析。 双检测器方法 增加采样光量并降低噪音 双检测器法是指采样光和参考光由独立的检测器采样，从而降低了基线噪声。此外，还能同时检测两束光，从而提高校正的准确性。 背景检测范围广 偏振泽曼校正法涵盖所有元素 可对在紫外或可见光范围内有吸收的元素进行背景校正。偏振泽曼校正法是校正方法的一种选择，其优点是无需为每种元素进行选择。它还可以校正 D2 灯校正法无法校正的元素，如钠和钾。